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J-GLOBAL ID：201502244955690767   整理番号：15A0652995

原子間力顕微鏡/質量分析プラットフォームを併用し,共登録されたトポグラフィー,バンド励起ナノ力学及び質量分析イメージング

Co-registered Topographical, Band Excitation Nanomechanical, and Mass Spectral Imaging Using a Combined Atomic Force Microscopy/Mass Spectrometry Platform

著者 (8件)： OVCHINNIKOVA Olga S. (Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA) ,  TAI Tamin (Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA) ,  BOCHAROVA Vera (Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA) ,  OKATAN Mahmut Baris (Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA) ,  BELIANINOV Alex (Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA) ,  KERTESZ Vilmos (Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA) ,  JESSE Stephen (Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA) ,  VAN BERKEL Gary J. (Oak Ridge National Lab., Tennessee, USA)
資料名： ACS Nano  (ACS Nano)
巻： 9  号： 4  ページ： 4260-4269  発行年： 2015年04月 
JST資料番号： W2326A  ISSN： 1936-0851  CODEN： ANCAC3  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 同じプラットフォーム上で原子間力顕微鏡(AFM)を用いたトポグラフィーイメージ,バンド励起ナノ力学(弾性係数)イメージならびに質量分析法に基づく試料表面の化学的イメージを得る方法を開発した。この方法を適用し,ポリスチレン/ポリ(2-ビニルピリジン)(PS/P2VP)混合物薄膜のイメージングを行った。熱分解(約450°C)ならびに単純熱脱着による表面からのサンプリングにはナノ熱分析プローブを用いた。AFMを用いたトポグラフィーイメージとバンド励起ナノ力学イメージから,PS/P2VP表面の谷様及び台地様領域はおもに,2種類のポリマのどちらか一つからなり,質量分析に基づく化学的イメージからはこれらの異なる位置でのポリマを明確に同定することができた。データポイントのピクセルサイズはこれら3つのイメージ取得法に対し,ほぼ同じで,それぞれ390nm×390nm,781nm×781nm及び690nm×500nmであった。一方,ボクセルサイズはイメージング法に依存して劇的に異なることが分かった。トポグラフィーイメージは表面測定法に特異的であるが,バンド励起と質量スペクトルイメージはそれぞれ約20nm及び110~140nmまでの深さからの情報を取得することができた。また,質量分析による化学的イメージの空間分解能は1.5~2.6μmであった。

シソーラス用語： *画像処理 ,  *原子間力顕微鏡 ,  *質量分析 ,  微視力学 ,  *弾性係数 ,  化学イオン化 ,  熱脱着 ,  トポグラフィー【形態】 ,  *空間分解能
準シソーラス用語： ナノ力学 ,  大気圧化学イオン化

分類 (4件)： 固体の表面構造一般  (BK15010E) ,  質量分析  (CC03013N) ,  固体の機械的性質一般  (BL01021C) ,  顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (9件)： 原子間力顕微鏡 ,  質量分析 ,  プラットフォーム ,  併用 ,  トポグラフィー ,  バンド ,  励起 ,  ナノ力学 ,  質量分析イメージング