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J-GLOBAL ID：201502245090800436   整理番号：15A0505561

局在プラズモン共鳴を用いたラマン分光法におけるひずみSi表面のAg粒子被覆率と信号増強の関係

著者 (7件)： 木嶋隆浩 (明治大 理工) ,  山本章太郎 (明治大 理工) ,  横川凌 (明治大 理工) ,  武内一真 (明治大 理工) ,  村上達海 (明治大 理工) ,  小瀬村大亮 (明治大 理工) ,  小椋厚志 (明治大 理工)
資料名： 応用物理学会春季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Spring Meeting (CD-ROM))
巻： 62nd  ページ： ROMBUNNO.11A-A27-7  発行年： 2015年02月26日 
JST資料番号： Y0054B  ISSN： 2436-7613  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *プラズマ共鳴 ,  Ramanスペクトル ,  *ケイ素 ,  *銀 ,  *粒子 ,  *表面増強Raman分光法 ,  表面プラズモン ,  基板 ,  スピンコーティング ,  被覆率
準シソーラス用語： 局在表面プラズモン共鳴

分類 (3件)： 半導体の赤外スペクトル及びRaman散乱・Ramanスペクトル  (BM08066B) ,  固体プラズマ  (BM02160W) ,  コロイド化学一般  (CB11010C)

タイトルに関連する用語 (7件)： 局在プラズモン共鳴 ,  ラマン分光法 ,  ひずみ ,  Si ,  Ag粒子 ,  被覆率 ,  信号増強