文献

J-GLOBAL ID：201502248214831520   整理番号：14A0919109

ナノ粒子とナノクラスタのナノスケール電子断層撮影と原子スケール高解像度電子顕微鏡検査:短期調査

Nanoscale electron tomography and atomic scale high-resolution electron microscopy of nanoparticles and nanoclusters: A short survey

著者 (4件)： Thomas John Meurig (Dep. of Materials Sci. and Metallurgy, Univ. of Cambridge, UK, Cambridge) ,  Midgley Paul A (Dep. of Materials Sci. and Metallurgy, Univ. of Cambridge, UK, Cambridge) ,  Ducati Caterina (Dep. of Materials Sci. and Metallurgy, Univ. of Cambridge, UK, Cambridge) ,  Leary Rowan K (Dep. of Materials Sci. and Metallurgy, Univ. of Cambridge, UK, Cambridge)
資料名： Progress in Natural Science: Materials International  (Progress in Natural Science: Materials International)
巻： 23  号： 3  ページ： 222-234  発行年： 2013年 
JST資料番号： W0407A  ISSN： 1002-0071  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ナノ粒子とナノクラスタ物質の内部構造と形態研究の技術として,走査透過電子断層撮影の傑出した長所を,多数の典型的図解の助力で要約した。参照もまた,有意な進展に関して作成した。進展は,異常修正(AC)電子顕微鏡検査(EM)を用いたナノスケール固体の超構造特性調査において生じた。個性的情報を,ACEMの画像と分析力結合によって取り出せる可能性がある。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST

シソーラス用語： *電子顕微鏡観察 ,  *トモグラフィー ,  長さ ,  ナノクラスタ ,  規模 ,  高分解能
準シソーラス用語： *電子顕微鏡検査 ,  *断層撮影 ,  原子スケール ,  ナノスケール ,  高解像度

分類 (2件)： 高分子固体の構造と形態学  (CG02022M) ,  共重合  (CG04030D)

タイトルに関連する用語 (10件)： ナノ粒子 ,  ナノクラスタ ,  ナノスケール ,  電子 ,  断層撮影 ,  原子スケール ,  高解像度 ,  電子顕微鏡検査 ,  短期 ,  調査