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J-GLOBAL ID：201502252847910206   整理番号：15A0608864

個々のシリコンナノ結晶におけるAuger再結合用プローブとしての励起子分子放射

Biexciton Emission as a Probe of Auger Recombination in Individual Silicon Nanocrystals

著者 (5件)： PEVERE Federico (KTH-Royal Inst. of Technol., Kista, SWE) ,  SYCHUGOV Ilya (KTH-Royal Inst. of Technol., Kista, SWE) ,  SANGGHALEH Fatemeh (KTH-Royal Inst. of Technol., Kista, SWE) ,  FUCIKOVA Anna (KTH-Royal Inst. of Technol., Kista, SWE) ,  LINNROS Jan (KTH-Royal Inst. of Technol., Kista, SWE)
資料名： Journal of Physical Chemistry C  (Journal of Physical Chemistry C)
巻： 119  号： 13  ページ： 7499-7505  発行年： 2015年04月02日 
JST資料番号： W1877A  ISSN： 1932-7447  CODEN： JPCCCK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 単一のシリコンナノ結晶におけるAuger/励起子分子過程を直接プローブした。強い励起の下で,低温スペクトロスコピーは如何なる新しい輝線をも明らかにしなかったが,有効なAuger過程を示して,ルミネセンス強度は明らかに飽和動作を示した。しかし,時間分解計測は,ルミネセンス減衰曲線における強い励起の下で,ナノ秒オーダの高速の初期過渡動作として励起子分子放射シグネチャの検出を示した。減衰曲線から得た特性的なAuger寿命時間の抽出値は,期待した励起子分子放射減衰時間よりも大幅に短いことが明らかであった。更に,励起子分子量子効率の温度依存性は,10K未満で0.1%を超えず,低温スペクトルにおける特異な線の不足を示した。シリコンナノ結晶におけるドットからドットへのAuger寿命時間の変動を実験的に示し,その値は先に計算した理論値と比肩するものであった。

シソーラス用語： *ナノ結晶 ,  *再結合 ,  *プローブ ,  励起子分子 ,  量子効率 ,  温度依存性 ,  ルミネセンス
準シソーラス用語： *Auger再結合 ,  *シリコンナノ結晶

分類 (1件)： 励起子  (BM02120E)

タイトルに関連する用語 (5件)： シリコンナノ結晶 ,  Auger再結合 ,  プローブ ,  励起子分子 ,  放射