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J-GLOBAL ID：201502255183309088   整理番号：14A1426122

光モジュールのための加速寿命試験の最適試験温度決定【Powered by NICT】

Determination the Optimum Test Temperature of Accelerated Life Test for Optical Module

著者 (4件)： Shu Qin (School of Electrical Engineering & Information, Sichuan Univ., Chengdu) ,  Gu Yishuang (School of Electrical Engineering & Information, Sichuan Univ., Chengdu) ,  Huang Hongguang (School of Electrical Engineering & Information, Sichuan Univ., Chengdu) ,  Jiang Zhenchao (Sichuan Electric Power Res. Inst., Chengdu)
資料名： Bandaoti Guangdian  (Bandaoti Guangdian)
巻： 35  号： 3  ページ： 406-410  発行年： 2014年 
JST資料番号： C2379A  ISSN： 1001-5868  CODEN： BAGUE5  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 中国 (CHN)  言語： 中国語 (ZH)

抄録/ポイント： 小型形状の差込可能(SFP)光学モジュールの劣化試験に必要な最小時間を決定するために,最大加速係数に基づく最適試験温度を決定する方法を提案した。第一に,それは寿命予測結果はArrheniusモデルを通して温度の選択により変えることができず,加速係数を最大化するための条件を検討したことを証明した。次に,最適温度を決める方法をステップ温度実験から駆動傷温度曲線により導いた。最後に,計算および分析結果は,駆動電流は温度,最適試験温度下で光学モデル加齢試験を行うことを困難にしているが影響されることを示した。Data from the ScienceChina, LCAS. Translated by JST【Powered by NICT】

シソーラス用語： *加齢

分類 (1件)： 半導体薄膜  (BK14040E)

タイトルに関連する用語 (3件)： 光モジュール ,  加速寿命試験 ,  試験温度