文献

J-GLOBAL ID：201502256103684750   整理番号：15A0094797

基盤外観検査システムにおける新たな取り組み プリント板外観検査の概要と研究例

著者 (1件)： 原靖彦 (日本大)
資料名： 画像ラボ  (Image Laboratory)
巻： 26  号： 1  ページ： 70-78  発行年： 2015年01月10日 
JST資料番号： L2340A  ISSN： 0915-6755  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 本稿は,プリント板外観検査自動化に関する概要および研究例について紹介する。研究例として1)梨地テクスチャ上にある濃淡むらをフーリエ変換を利用した手法により抽出する研究,2)プリント配線板パターンの外観検査においてパターンの変形だけではなくパターンの暗化部を欠陥として検出する手法の研究,3)はんだレジスト,シルク印刷パターン,銅パターンなどが混在する最終プリント配線板パターンの検査装置,4)微小なボールの高さを検出する手法についての研究例を紹介する。(著者抄録)

シソーラス用語： *外観検査 ,  *プリント基板 ,  *テクスチャ処理 ,  濃淡画像 ,  Fourier変換 ,  故障検出 ,  異常診断 ,  低域フィルタ ,  むら ,  二値画像 ,  境界 ,  画素 ,  三次元測定
準シソーラス用語： 欠陥検出 ,  三次元計測

分類 (3件)： 品質検査  (KB04020L) ,  プリント回路  (NA05040O) ,  図形・画像処理一般  (JE04010I)

タイトルに関連する用語 (6件)： 基盤 ,  外観検査システム ,  プリント板 ,  外観検査 ,  概要 ,  研究