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J-GLOBAL ID：201502256669593094   整理番号：15A0548492

ニトロシルクロリドのNEXAFSおよびXPS研究

NEXAFS and XPS studies of nitrosyl chloride

著者 (12件)： SCHIO Luca (Dipartimento di Chimica, Universita Sapienza, Roma, I-00185, ITA) ,  LI Cui ,  MONTI Susanna ,  SALEN Peter ,  YATSYNA Vasyl ,  FEIFEL Raimund ,  ALAGIA Michele ,  RICHTER Robert ,  FALCINELLI Stefano ,  STRANGES Stefano ,  ZHAUNERCHYK Vitali ,  CARRAVETTA Vincenzo
資料名： Physical Chemistry Chemical Physics  (Physical Chemistry Chemical Physics)
巻： 17  号： 14  ページ： 9040-9048  発行年： 2015年04月14日 
JST資料番号： A0271C  ISSN： 1463-9076  CODEN： PPCPFQ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： ニトロシルクロリド(ClNO)の電子構造を気相においてX線光電子スペクトル(XPS)およびCl 2p,Cl 2s,N 1s,O 1sエッジのX線吸収端微細構造(NEXAFS)により実験と理論を組合せて研究した。種々の近似レベルの理論計算は実測値とよく一致するイオン化ポテンシャル値を予測し吸収スペクトルの主な特徴の帰属を可能にした。しかし,密度汎関数モデルの予想されない欠陥がCl 2s結合エネルギーの計算において見られ,大きい自己相互作用誤差により説明した。大きく異なる光吸収断面積パターンが検討した量子殻(n=1,2)からの内殻励起において実験的に観測された。種々の吸収端の振動子強度分布の計算によりこの知見を確かめた。n=2殻では閾値より下のバンドは極めて弱く,吸収強度の大部分は連続帯における励起によるものであった。Copyright 2015 Royal Society of Chemistry All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST

シソーラス用語： *ニトロシル化合物 ,  *塩化物 ,  気相 ,  *電子構造 ,  *XANES ,  *X線光電子スペクトル ,  イオン化ポテンシャル ,  密度汎関数法 ,  結合エネルギー ,  相互作用 ,  吸収係数 ,  断面積 ,  内殻励起 ,  吸収端 ,  振動子強度
準シソーラス用語： *NEXAFS ,  X線吸収端微細構造 ,  吸収断面積 ,  光吸収係数 ,  自己相互作用

分類 (3件)： 分子の性質一般  (BH05031D) ,  一般・無機化合物のX線スペクトル(分子)  (BH06051G) ,  無機化合物一般及び元素  (CD01010D)

タイトルに関連する用語 (3件)： NEXAFS ,  XPS ,  研究