CUMERAS R. について
Inst. de Microelectronica de Barcelona, IMB-CNM (CSIC), Esfera UAB, Campus UAB s/n, E-08193 Bellaterra, Barcelona ... について
FIGUERAS E. について
DAVIS C. E. について
BAUMBACH J. I. について
GRACIA I. について
Analyst について
スペクトロスコピー について
イオン移動度 について
気相 について
計測器 について
原理 について
時間測定 について
質量分析 について
ガスクロマトグラフィー について
分析機器 について
分離 について
IMS【分光法】 について
イオン移動度分光法 について
計測原理 について
測定原理 について
到達時間差 について
分析機器 について
その他の物理分析 について
分子衝突・相互作用一般 について
イオン移動度分光法 について
総説 について
計測器 について