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J-GLOBAL ID：201502260895444775   整理番号：15A0520529

HAADF-STEMの進歩による材料の物理化学への洞察

Insights into the physical chemistry of materials from advances in HAADF-STEM

著者 (4件)： SOHLBERG Karl (Dep. of Chemistry, Drexel Univ., Philadelphia, PA 19104, USA) ,  PENNYCOOK Timothy J. ,  ZHOU Wu ,  PENNYCOOK Stephen J.
資料名： Physical Chemistry Chemical Physics  (Physical Chemistry Chemical Physics)
巻： 17  号： 6  ページ： 3982-4006  発行年： 2015年02月14日 
JST資料番号： A0271C  ISSN： 1463-9076  CODEN： PPCPFQ  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 「新しいツールは,新しい科学につながる」[P.S.Weiss,ACS Nano.,2012,6(3),1877~1879],という観察は,走査型透過電子顕微鏡(STEM)がおそらく最も明白である。STEMの進歩は,いくつかの強力な機能を備えたこの技術をもたらした。例えば,高角度環状暗視野像の適用は,Z-コントラスト(Z=原子番号)をもつサブオングストロームの解像度での実空間像を可能とした。EELSの使用による同時実空間像と元素同定,深さセクショニングによる3次元マッピング,像の時間-シーケンスによる表面拡散の監視,グラフェンをプロービングするための低減した電子エネルギー撮影などの,さらなる進歩がもたらされた。本稿では,第一原理理論と組合せたこれらの進歩が,材料の物理化学に興味ある重要な新洞察を,いかにもたらしているか確認した。次いで,いくつかの特定用途をレビューし,STEMの機能の一部をハイライトした。,Copyright 2015 Royal Society of Chemistry All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST

シソーラス用語： *透過型走査電子顕微鏡 ,  電子エネルギー損失分光法 ,  エネルギー ,  計算 ,  光学顕微鏡法 ,  原子番号 ,  写像 ,  表面拡散 ,  グラフェン
準シソーラス用語： EELS法 ,  *HAADF-STEM ,  マッピング ,  暗視野顕微鏡 ,  第一原理計算 ,  電子エネルギー

分類 (2件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B) ,  顕微鏡法  (BK01040E)

タイトルに関連する用語 (3件)： HAADF-STEM ,  物理化学 ,  洞察