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J-GLOBAL ID：201502261948751795   整理番号：15A0397232

二重イオンビームで照射されたSiCにおける核と電子エネルギー損失間の相互作用による回復効果

Recovery effects due to the interaction between nuclear and electronic energy losses in SiC irradiated with a dual-ion beam

著者 (9件)： THOME Lionel (Centre de Sciences Nucleaires et de Sciences de la Matiere, CNRS-IN2P3-Universite Paris-Sud, Bat. 108, F-91405 Orsay ...) ,  VELISA Gihan (CEA, DEN, Serv. de Recherches de Metallurgie Physique, Lab. JANNUS, F-91191 Gif-sur-Yvette, FRA) ,  MIRO Sandrine (CEA, DEN, Serv. de Recherches de Metallurgie Physique, Lab. JANNUS, F-91191 Gif-sur-Yvette, FRA) ,  DEBELLE Aurelien (Centre de Sciences Nucleaires et de Sciences de la Matiere, CNRS-IN2P3-Universite Paris-Sud, Bat. 108, F-91405 Orsay ...) ,  GARRIDO Frederico (Centre de Sciences Nucleaires et de Sciences de la Matiere, CNRS-IN2P3-Universite Paris-Sud, Bat. 108, F-91405 Orsay ...) ,  SATTONNAY Gaeel (Centre de Sciences Nucleaires et de Sciences de la Matiere, CNRS-IN2P3-Universite Paris-Sud, Bat. 108, F-91405 Orsay ...) ,  MYLONAS Stamatis (Centre de Sciences Nucleaires et de Sciences de la Matiere, CNRS-IN2P3-Universite Paris-Sud, Bat. 108, F-91405 Orsay ...) ,  TROCELLIER Patrick (CEA, DEN, Serv. de Recherches de Metallurgie Physique, Lab. JANNUS, F-91191 Gif-sur-Yvette, FRA) ,  SERRUYS Yves (CEA, DEN, Serv. de Recherches de Metallurgie Physique, Lab. JANNUS, F-91191 Gif-sur-Yvette, FRA)
資料名： Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)
巻： 117  号： 10  ページ： 105901-105901-9  発行年： 2015年03月14日 
JST資料番号： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *炭化ケイ素 ,  六方晶系 ,  化合物半導体 ,  *イオン照射 ,  単一モード ,  モード ,  *相乗作用 ,  *原子核 ,  エネルギー ,  *エネルギー損失 ,  照射損傷 ,  *回復 ,  Rutherford後方散乱 ,  Raman分光法 ,  電子顕微鏡観察 ,  透過型電子顕微鏡
準シソーラス用語： 6H-SiC ,  *イオンビーム照射 ,  二重モード ,  電子エネルギー

分類 (1件)： 半導体の放射線による構造と物性の変化  (BK16123E)

タイトルに関連する用語 (7件)： 重イオンビーム ,  SiC ,  核 ,  電子エネルギー ,  損失 ,  相互作用 ,  回復