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J-GLOBAL ID：201502262556159401   整理番号：15A0202886

有機分子結晶配向変化のための臨界CuIバッファー層表面密度

Critical CuI buffer layer surface density for organic molecular crystal orientation change

著者 (5件)： AHN Kwangseok (Dep. of Physics, Soongsil Univ., Seoul 156-743, KOR) ,  KIM Jong Beom (Dep. of Physics, Soongsil Univ., Seoul 156-743, KOR) ,  KIM Hyo Jung (Dep. of Organic Material Sci. and Engineering, Pusan National Univ., Busan 609-735, KOR) ,  LEE Hyun Hwi (Pohang Accelerator Lab., POSTECH, Pohang 790-784, KOR) ,  LEE Dong Ryeol (Dep. of Physics, Soongsil Univ., Seoul 156-743, KOR)
資料名： Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)
巻： 117  号： 3  ページ： 035502-035502-5  発行年： 2015年01月21日 
JST資料番号： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： 結晶方位 ,  *バッファ層 ,  密度 ,  *ヨウ化物 ,  *銅化合物 ,  X線回折 ,  原子間力顕微鏡 ,  銅錯体 ,  フタロシアニン錯体 ,  *優先配向 ,  分子結晶
準シソーラス用語： *ヨウ化銅 ,  *表面密度 ,  すれすれ入射X線回折

分類 (2件)： 有機化合物の薄膜  (BK14070L) ,  遷移金属元素(鉄族元素を除く)の錯体の結晶構造  (BK09030X)

物質索引 (1件)： 銅フタロシアニン

タイトルに関連する用語 (6件)： 有機分子 ,  結晶配向 ,  臨界 ,  CUI ,  バッファー層 ,  表面密度