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J-GLOBAL ID：201502266039597011   整理番号：15A0492023

高速位相回復機能を備えた平行2段階空間キャリア位相シフト型干渉位相差顕微鏡

Parallel two-step spatial carrier phase-shifting interferometric phase microscopy with fast phase retrieval

著者 (6件)： HAO Bengong (Harbin Engineering Univ., Heilongjiang, CHN) ,  SHAN Mingguang (Harbin Engineering Univ., Heilongjiang, CHN) ,  ZHI Zhong (Harbin Engineering Univ., Heilongjiang, CHN) ,  DIAO Ming (Harbin Engineering Univ., Heilongjiang, CHN) ,  WANG Ying (Harbin Engineering Univ., Heilongjiang, CHN) ,  ZHANG Yabin (Harbin Engineering Univ., Heilongjiang, CHN)
資料名： Journal of Optics  (Journal of Optics)
巻： 17  号： 3  ページ： 035602,1-6  発行年： 2015年03月 
JST資料番号： D0538C  ISSN： 2040-8978  CODEN： JOOPCA  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 干渉型位相差顕微鏡(IPI)は,非侵襲性で,高精度および全視野定量位相測定が可能なので,生物細胞,表面測定および微細構造を研究するために幅広く採用されている。試料の位相回復を達成するために,IPIのための様々な干渉法が提案されている。最も魅力的な方法の一つは,位相シフト干渉法(PSI)で,CCDカメラの空間バンド幅を十分に活用できる特長を持つ。しかし,従来のPSIは,不必要なdc成分や2重像を除去するために,幾つかの時系列位相シフトインターフェログラムを得る必要がある。従って,この方法は移動物体の測定には適さない。本稿では,高速位相回復機能を備えた平行2段階空間キャリア位相シフト型干渉位相差(TSCPTI)顕微鏡による実験結果を報告する。システムの収差や雑音および位相傾斜を除去するために,TSCPTIに顕微鏡モジュールを導入した簡単な位相回復モデルを確立し,位相回復速度を改善することができる。実験結果から,位相試料のインターフェログラムを単一ショットでカメラによって取得することができ,位相変化が2π以下の場合には,試料の位相分布を位相接続処理することなしに再構成できることが分かった。実験結果から,この方法の妥当性を実証することができた

シソーラス用語： 位相シフト ,  *位相差顕微鏡 ,  干渉 ,  *位相回復 ,  細胞 ,  表面 ,  微細構造 ,  *干渉測定 ,  *移動体 ,  *高速化 ,  モデリング
準シソーラス用語： 生物細胞 ,  *位相シフト干渉法 ,  移動物体

分類 (1件)： 光学的測定とその装置一般  (BD07010S)

タイトルに関連する用語 (6件)： 位相回復 ,  段階 ,  キャリア位相 ,  シフト ,  干渉 ,  位相差顕微鏡