文献

J-GLOBAL ID：201502271449809001   整理番号：15A0675292

アバランシェフォトダイオードを用いる改善したX線検出と粒子同定

Improved x-ray detection and particle identification with avalanche photodiodes

著者 (39件)： DIEPOLD Marc (Max Planck Inst. of Quantum Optics, 85748 Garching, DEU) ,  FERNANDES Luis M. P. (LIBPhys, Physics Dep., Universidade de Coimbra, 3004-516 Coimbra, PRT) ,  MACHADO Jorge (Laboratorio de Instrumentacao, Engenharia Biomedica e Fisica da Radiacao (LIBPhys-UNL) e Departamento de Fisica da ...) ,  AMARO Pedro (Laboratorio de Instrumentacao, Engenharia Biomedica e Fisica da Radiacao (LIBPhys-UNL) e Departamento de Fisica da ...) ,  ABDOU-AHMED Marwan (Inst. fuer Strahlwerkzeuge, Universitaet Stuttgart, 70569 Stuttgart, DEU) ,  AMARO Fernando D. (LIBPhys, Physics Dep., Universidade de Coimbra, 3004-516 Coimbra, PRT) ,  ANTOGNINI Aldo (Inst. for Particle Physics, ETH Zurich, 8093 Zurich, CHE) ,  BIRABEN Francois (Lab. Kastler Brossel, UPMC-Sorbonne Universites, CNRS, ENS-PSL Res. Univ., Coll. de France, 4 place Jussieu, case 74 ...) ,  CHEN Tzu-ling (Physics Dep., National Tsing Hua Univ., Hsinchu 300, Taiwan) ,  COVITA Daniel S. (i3N, Universidade de Aveiro, Campus de Santiago, 3810-193 Aveiro, PRT) ,  DAX Andreas J. (Paul Scherrer Inst., 5232 Villigen-PSI, CHE) ,  FRANKE Beatrice (Max Planck Inst. of Quantum Optics, 85748 Garching, DEU) ,  GALTIER Sandrine (Lab. Kastler Brossel, UPMC-Sorbonne Universites, CNRS, ENS-PSL Res. Univ., Coll. de France, 4 place Jussieu, case 74 ...) ,  GOUVEA Andrea L. (LIBPhys, Physics Dep., Universidade de Coimbra, 3004-516 Coimbra, PRT) ,  GOETZFRIED Johannes (Max Planck Inst. of Quantum Optics, 85748 Garching, DEU) ,  GRAF Thomas (Inst. fuer Strahlwerkzeuge, Universitaet Stuttgart, 70569 Stuttgart, DEU) ,  HAENSCH Theodor W. (Max Planck Inst. of Quantum Optics, 85748 Garching, DEU) ,  HILDEBRANDT Malte (Paul Scherrer Inst., 5232 Villigen-PSI, CHE) ,  INDELICATO Paul (Lab. Kastler Brossel, UPMC-Sorbonne Universites, CNRS, ENS-PSL Res. Univ., Coll. de France, 4 place Jussieu, case 74 ...) ,  JULIEN Lucile (Lab. Kastler Brossel, UPMC-Sorbonne Universites, CNRS, ENS-PSL Res. Univ., Coll. de France, 4 place Jussieu, case 74 ...) ,  KIRCH Klaus (Inst. for Particle Physics, ETH Zurich, 8093 Zurich, CHE) ,  KNECHT Andreas (Paul Scherrer Inst., 5232 Villigen-PSI, CHE) ,  KOTTMANN Franz (Inst. for Particle Physics, ETH Zurich, 8093 Zurich, CHE) ,  KRAUTH Julian J. (Max Planck Inst. of Quantum Optics, 85748 Garching, DEU) ,  LIU Yi-wei (Physics Dep., National Tsing Hua Univ., Hsinchu 300, Taiwan) ,  MONTEIRO Cristina M. B. (LIBPhys, Physics Dep., Universidade de Coimbra, 3004-516 Coimbra, PRT) ,  MULHAUSER Francoise (Max Planck Inst. of Quantum Optics, 85748 Garching, DEU) ,  NAAR Boris (Inst. for Particle Physics, ETH Zurich, 8093 Zurich, CHE) ,  NEBEL Tobias (Max Planck Inst. of Quantum Optics, 85748 Garching, DEU) ,  NEZ Francois (Lab. Kastler Brossel, UPMC-Sorbonne Universites, CNRS, ENS-PSL Res. Univ., Coll. de France, 4 place Jussieu, case 74 ...) ,  SANTOS Jose Paulo (Laboratorio de Instrumentacao, Engenharia Biomedica e Fisica da Radiacao (LIBPhys-UNL) e Departamento de Fisica da ...) ,  DOS SANTOS Joaquim M. F. (LIBPhys, Physics Dep., Universidade de Coimbra, 3004-516 Coimbra, PRT) ,  SCHUHMANN Karsten (Inst. for Particle Physics, ETH Zurich, 8093 Zurich, CHE) ,  SZABO Csilla I. (Lab. Kastler Brossel, UPMC-Sorbonne Universites, CNRS, ENS-PSL Res. Univ., Coll. de France, 4 place Jussieu, case 74 ...) ,  TAQQU David (Inst. for Particle Physics, ETH Zurich, 8093 Zurich, CHE) ,  VELOSO Joao F. C. A. (i3N, Universidade de Aveiro, Campus de Santiago, 3810-193 Aveiro, PRT) ,  VOSS Andreas (Inst. fuer Strahlwerkzeuge, Universitaet Stuttgart, 70569 Stuttgart, DEU) ,  WEICHELT Birgit (Inst. fuer Strahlwerkzeuge, Universitaet Stuttgart, 70569 Stuttgart, DEU) ,  POHL Randolf (Max Planck Inst. of Quantum Optics, 85748 Garching, DEU)
資料名： Review of Scientific Instruments  (Review of Scientific Instruments)
巻： 86  号： 5  ページ： 053102-053102-6  発行年： 2015年05月 
JST資料番号： D0517A  ISSN： 0034-6748  CODEN： RSINAK  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： アバランシェフォトダイオードは普通低エネルギーX線の検出器として使われる。この作業において我々は,いろいろなアバランシェフォトダイオード層における光吸収から帰着する,種々の検出器応答を説明するために使う,当てはめ技法について報告する。この技法の使用は,8.2keVにおけるファクタ2までだけのエネルギー分解能の改善に帰着し,空間依存する電子ドリフト時間を説明する25nsまでだけタイミング情報を正す。さらにこの波形分析は粒子同定のために,例えば我々の実験におけるX線とMeV電子の間を識別するために使う。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *アバランシェフォトダイオード ,  X線検出 ,  *放射線検出 ,  粒子 ,  同定 ,  曲線あてはめ ,  エネルギー分解能 ,  ドリフト ,  電子

分類 (1件)： 放射線検出・検出器  (AD08020J)

タイトルに関連する用語 (3件)： アバランシェフォトダイオード ,  X線検出 ,  同定