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J-GLOBAL ID：201502281755016231   整理番号：15A0676582

FrB-SEM-EBSDシリアルセクショニング法によるミクロ・メソレベルの3D観察

著者 (4件)： 遠堂敬史 (北大) ,  王永明 (北大 創成科学研究機構) ,  宮崎宣幸 (北大) ,  大貫惣明 (北大)
資料名： 日本顕微鏡学会北海道支部学術講演会講演要旨集  (Abstracts. General Meeting of Japanese Society of Microscopy. Hokkaido Branch)
巻： 2014  ページ： 4  発行年： 2014年 
JST資料番号： L6116A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *顕微鏡観察 ,  *集束イオンビーム ,  *走査電子顕微鏡 ,  *電子回折 ,  *金属材料 ,  結晶方位 ,  内部構造
準シソーラス用語： *三次元観察 ,  *FIB【ビーム】 ,  *SEM【顕微鏡】 ,  *EBSD

分類 (5件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B) ,  顕微鏡法  (BK01040E) ,  電子ビーム・イオンビームの応用  (BD02070X) ,  電子回折法  (BK01030T) ,  金属の結晶構造  (BK06000V)

タイトルに関連する用語 (4件)： SEM ,  EBSD ,  3D ,  観察