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J-GLOBAL ID：201502285034659170   整理番号：15A0412943

高信頼性応用におけるはんだのためのXRFおよびSEM-EDS元素分析結果の検証およびトレーサビリティ

Validation and traceability of XRF and SEM-EDS elemental analysis results for solder in high-reliability applications

著者 (2件)： SIEBER John R. (National Inst. of Standards and Technol., MD, USA) ,  MORTENSEN Adam (Hi-Rel Lab., Inc., WA, USA)
資料名： X-Ray Spectrometry  (X-Ray Spectrometry)
巻： 43  号： 5  ページ： 259-268  発行年： 2014年09月 
JST資料番号： D0456B  ISSN： 0049-8246  CODEN： XRSPAX  資料種別： 逐次刊行物 (A)
発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

タイトルに関連する用語 (7件)： 高信頼性 ,  応用 ,  はんだ ,  XRF ,  元素分析 ,  検証 ,  トレーサビリティ