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J-GLOBAL ID：201502287659978497   整理番号：15A0275238

分析化学における放射光の利用 粉末X線回折

著者 (1件)： 井田隆 (名古屋大 先進セラミックス研究セ)
資料名： ぶんせき
号： 2  ページ： 52-57  発行年： 2015年02月05日 
JST資料番号： S0128B  ISSN： 0386-2178  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： 粉末X線回折は,粉末結晶を用いてX線結晶構造解析測定とデータ解析をおこない,主に鉱物・金属・セラミックスなど,結晶性物質の同定と定性分析を目的とした実用的な方法として古くから用いられている。単結晶法と粉末法,粉末X線回折における放射光利用,同定と定性分析,および放射光粉末X線回折による定量分析について解説した。

シソーラス用語： *X線回折 ,  X線構造解析 ,  データ解析 ,  鉱物 ,  金属 ,  セラミック ,  同定 ,  定性分析 ,  定量分析
準シソーラス用語： X線結晶構造解析 ,  *シンクロトロン放射光X線回折 ,  単結晶X線回折 ,  *粉末X線回折

分類 (2件)： その他の物理分析  (CC03014E) ,  X線回折法  (BK01020I)

引用文献 (9件)：

• W. Kugler : Advances in X-ray Analysis, 46, 1 (2003).
• D. Blake, D. Vaniman, C. Achilles, R. Anderson, D. Bish, T. Bristow, C. Chen, S. Chipera, J. Crisp, D. Des Marais, R. T. Downs, J. Farmer, S. Feldman, M. Fonda, M. Gailhanou, H. Ma, D. W. Ming, R. V. Morris, P. Sarrazin, E. Stolper, A. Treimann, A. Yen : Space Sci. Rev., 170, 341 (2012).
• J. D. Hanawalt, H. W. Rinn : Ind. Eng. Chem. Anal. Ed., 8, 244 (1936).
• J. D. Hanawalt, H. W. Rinn, L. K. Frevel : Ind. Eng. Chem. Anal. Ed., 10, 457 (1938).
• H. Toraya, H. Hibino, K. Ohsumi : J. Synchrotron Rad., 3, 75 (1996).

タイトルに関連する用語 (3件)： 分析化学 ,  放射光 ,  粉末X線回折