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J-GLOBAL ID：201502291229507005   整理番号：15A0228552

光周波数コム基準の解像度ピコメートルのFabry-Perot干渉計

Fabry-Perot interferometer with picometer resolution referenced to an optical frequency comb

著者 (4件)： ZHU Minhao (State Key Lab of Precision Measurement Technol. & Instruments, Dep. of Precision Instrument, Tsinghua Univ., Beijing ...) ,  WEI Haoyun (State Key Lab of Precision Measurement Technol. & Instruments, Dep. of Precision Instrument, Tsinghua Univ., Beijing ...) ,  WU Xuejian (State Key Lab of Precision Measurement Technol. & Instruments, Dep. of Precision Instrument, Tsinghua Univ., Beijing ...) ,  LI Yan (State Key Lab of Precision Measurement Technol. & Instruments, Dep. of Precision Instrument, Tsinghua Univ., Beijing ...)
資料名： Optics and Lasers in Engineering  (Optics and Lasers in Engineering)
巻： 67  ページ： 128-134  発行年： 2015年04月 
JST資料番号： A0602B  ISSN： 0143-8166  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 解像度ピコメートルのFabry-Perot(F-P)干渉計を提案した。Pound-Drever-Hallトラッキング法を利用して,F-P共振器の共鳴に,トラッキング外部共振器ダイオードレーザ(ECDL)の周波数を同期した。光周波数コム(OFC)を利用して,プローブ反射鏡の変位で誘導されたECDLの周波数変化を測定した。したがって,F-P干渉計の測定結果は,OFCのラジオ周波数基準に適合した。F-P干渉計において,80msの平均化時間で0.46pmの変位解像度を達成できた。1μmの変位での不確実性は1.2nmであった。F-P干渉計の応用を示した。プローブ反射鏡に圧電変換器を取り付けて,変換器のヒステリシス非線形性を測定した。700nmの変位において,約6%のヒステリシス非線形性を観測した。Copyright 2015 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： 半導体レーザ ,  周波数 ,  追跡 ,  ヒステリシス ,  共振器 ,  変換器 ,  圧電素子 ,  光プローブ ,  非線形性 ,  *Fabry-Perot干渉計 ,  分解能 ,  標準 ,  周波数標準器 ,  共鳴 ,  周波数同期 ,  反射鏡 ,  *光干渉法
準シソーラス用語： 圧電変換器 ,  外部共振器 ,  *光周波数コム

分類 (1件)： 干渉測定と干渉計  (BD07070G)

タイトルに関連する用語 (3件)： 光周波数コム ,  解像度 ,  Fabry-Perot干渉計