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J-GLOBAL ID：201502292858005221   整理番号：15A0530972

劣化分析のための新しいクラスのWienerプロセスモデル

A new class of Wiener process models for degradation analysis

著者 (3件)： YE Zhi-Sheng (Dep. of Industrial and Systems Engineering, National Univ. of Singapore, SGP) ,  CHEN Nan (Dep. of Industrial and Systems Engineering, National Univ. of Singapore, SGP) ,  SHEN Yan (Dep. of Statistics, School of Economics, Xiamen Univ., CHN)
資料名： Reliability Engineering & System Safety  (Reliability Engineering & System Safety)
巻： 139  ページ： 58-67  発行年： 2015年07月 
JST資料番号： D0980B  ISSN： 0951-8320  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 多くの製品に関して,より高い劣化率を持つユニットがより不安定な劣化パスを持つことは少ない。この観察に動機付けられて,筆者等は,Wienerプロセスモデルに関する新しいクラスのランダム効果を提案した。具体的には,Wienerプロセスを特殊な形式で表現し,パラメータの一つが製品母集団の全体でランダムにできるようにした。これによって,高い劣化率を持つユニットも不安定な劣化パスを持つようになる。同モデルによる統計的推定を論じた。さらに,Wienerプロセスに関するストレス-加速関係を導入し,製品の劣化率と不安定さの双方がストレスレベルに関して増大するようにした。疲労クラック成長に関するデータセットやハードディスクドライブのヘッド損耗に関するデータセットの分析によって,提案モデルを実証した。筆者等のモデルは,ドリフト率と不安定さの関係を無視した既存のモデルよりも良好に機能する。Copyright 2015 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *劣化 ,  過程 ,  加速試験 ,  寿命試験 ,  *Wiener過程 ,  最尤法 ,  *確率モデル ,  駆動機構 ,  疲れ亀裂成長 ,  比率
準シソーラス用語： 劣化過程 ,  加速劣化試験 ,  ランダム効果 ,  ハードディスクドライブ ,  疲労クラック成長 ,  劣化率

分類 (1件)： 信頼性  (KB04040H)

タイトルに関連する用語 (3件)： 分析 ,  クラス ,  プロセスモデル