特許
J-GLOBAL ID:201503000713765728
圧粉磁心の簡易評価方法
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (4件):
竹中 芳通
, 亀岡 誠司
, 武仲 宏典
, 坂谷 亨
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2014-087107
公開番号(公開出願番号):特開2015-207652
出願日: 2014年04月21日
公開日(公表日): 2015年11月19日
要約:
【課題】圧粉磁心の絶縁皮膜による絶縁性および耐熱性を、渦電流損を直接測定するのではなく簡易な方法で容易に評価することができる圧粉磁心の簡易評価方法を提供する。【解決手段】棒状の圧粉磁心試験片3をコイル4の中に挿入し、圧粉磁心試験片3に、10Hz〜1MHzの範囲で、且つ100倍以上の差の2種類の異なる周波数の交流電流をそれぞれ流すことで、各周波数における圧粉磁心試験片3のインダクタンスを測定し、その2種類の周波数間でのインダクタンスの低下率から、圧粉磁心の絶縁皮膜による絶縁性および耐熱性を評価する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
絶縁皮膜で被覆された軟磁性粉末を圧縮成形してなる圧粉磁心における前記絶縁皮膜による絶縁性および耐熱性を評価する圧粉磁心の簡易評価方法において、
棒状の圧粉磁心試験片をコイルの中に挿入し、
前記圧粉磁心試験片に、10Hz〜1MHzの範囲で、且つ100倍以上の差の2種類の異なる周波数の交流電流をそれぞれ流すことで、各周波数における前記圧粉磁心試験片のインダクタンスを測定し、その2種類の周波数間でのインダクタンスの低下率から、前記絶縁皮膜による絶縁性および耐熱性を評価することを特徴とする圧粉磁心の簡易評価方法。
IPC (5件):
H01F 41/00
, H01F 1/24
, H01F 41/02
, G01N 27/72
, G01R 27/26
FI (6件):
H01F41/00 D
, H01F1/24
, H01F41/02 D
, H01F41/02 Z
, G01N27/72
, G01R27/26 L
Fターム (18件):
2G028BB20
, 2G028CG02
, 2G028CG06
, 2G028CG20
, 2G028DH04
, 2G028DH11
, 2G053AB21
, 2G053BA02
, 2G053BA19
, 2G053BC07
, 2G053CA17
, 5E041AA01
, 5E041AA02
, 5E041AA03
, 5E041AA04
, 5E041AA07
, 5E041BB01
, 5E041BB03
引用特許:
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