特許
J-GLOBAL ID：201503000847488640
画像解像度が改善された超解像画像を形成するための方法及び測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
アインゼル・フェリックス=ラインハルト
, 久野 琢也
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-546354
公開番号（公開出願番号）：特表2015-524946
出願日： 2012年12月10日
公開日（公表日）： 2015年08月27日
要約：
不可視スペクトル領域で一連の個別画像(6,7,8)を記録するための測定装置において、個別画像(6,7,8)の画像解像度よりも高い画像解像度を有するSR画像(11)を形成するための方法が提案される。この方法では、上述の複数の個別画像(6,7,8)に対して、オプティカルフローの算出によって、変位ベクトル場(11,12)が求められ、また、個別画像(6,7,8)が変位ベクトル場(11,12)の値に関して複数のセグメント(20,21,22,23,24,25)に区分され、その際に、それらのセグメント(20,21,22,23,24,25)に対応付けられている個別の変動パラメータを用いて、個別画像(6,7,8)からSR画像(11)を算出するために最適化法が実施される。
請求項（抜粋）：
画像解像度が改善されたSR画像(11)を形成するための方法であって、
複数のピクセル(9,10)から構成されている一連の個別画像(6,7,8)を不可視スペクトル領域において記録し、前記一連の個別画像(6,7,8)がサンプリング関数を用いて前記SR画像(11)のサンプリングとしてモデリング可能であるように、前記個別画像(6,7,8)を最適化法において一つのSR画像(11)に結合する方法において、
第1のステップにおいて、前記一連の個別画像(6,7,8)についてオプティカルフローを自動的に算出し、各個別画像(6,7,8)に、前記オプティカルフローを表す変位ベクトル場(11,12)を対応付け、
第2のステップにおいて、前記個別画像(6,7)を少なくとも二つのセグメント(20,21,22,23,24,25)に区分し、但し、セグメント(20,21,22,23,24,25)内の各ピクセル(9,10)は前記変位ベクトル場(11,12)の値領域の所定の部分領域内の変位ベクトル(14,15,16,17,18,19)を有しており、
第3のステップにおいて、前記最適化法を実施し、各セグメント(20,21,22,23,24,25)に対して少なくとも一つの別個の変動パラメータを変化させる、
ことを特徴とする、方法。
IPC (4件)：
G06T 3/40
, G06T 7/20
, G01J 5/48
, H04N 5/369
G06T3/40 745
, G06T7/20 B
, G01J5/48 A
, H04N5/335 690
2G066BB07
, 2G066BC05
, 2G066BC15
, 2G066CA02
, 5B057BA02
, 5B057CA08
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057CB08
, 5B057CB12
, 5B057CB16
, 5B057CD05
, 5B057CE03
, 5B057DC32
, 5C024AX06
, 5C024CX37
, 5C024GX08
, 5C024HX22
, 5C024HX28
, 5C024HX30
, 5L096AA06
, 5L096CA04
, 5L096EA14
, 5L096HA04
審査官引用 (1件)
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Super-Resolution Thermal Image Reconstruction
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