特許
J-GLOBAL ID：201503001188403786
要因解析装置及び要因解析方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
恩田 博宣
, 恩田 誠
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-054522
公開番号（公開出願番号）：特開2013-190214
特許番号：特許第5817600号
出願日： 2012年03月12日
公開日（公表日）： 2013年09月26日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 複数の変数を含む複数のサンプルが、それらサンプルの別に複数の分類クラスの1つが割り当てられて記憶されている記憶部と、
前記分類クラスを、複数のサンプルを分類するための目的変数とし、前記サンプルを、分類クラスにより分類される説明変数とする決定木による解析によって、前記複数のサンプルを各変数の別に分類したときに、前記複数の分類クラスのうちの選択された特定の分類クラスのばらつきが小さくなるように前記変数を順に選択しつつ前記複数のサンプルを変数別のサンプルに順次分類していくことで分類に影響を及ぼす複数の変数からなる変数群を得る解析部と、
を備える要因解析装置であって、
前記変数群に含まれている複数の変数を、それぞれの変数によって分類された複数のサンプルに設定されている前記特定の分類クラスの割合に基づいて絞り込む変数絞り込み部を備え、
前記解析部は、前記決定木を、全てのサンプルを含む1つの根ノードと、順次分類した結果、分類不可能になった1又は複数のサンプルからなる複数の葉ノードを有するものとして得るとともに、前記変数群に含まれる複数の変数を、前記1つの根ノードから前記複数の葉ノードのうちの一つまでの経路に含まれる変数から構成し、
前記変数絞り込み部は、前記変数群に含まれている複数の変数の絞り込みを、前記変数群に含まれる複数の変数により分類される複数のサンプルに対応付けられる特定の分類クラスの割合が、前記経路にあって葉ノード側で分類された1又は複数のサンプルに対応付けられる特定の分類クラスの割合よりも大きいとき、前記変数群から前記変数を除外することを再帰的に実行することにより行う
ことを特徴とする要因解析装置。
IPC (1件)：
FI (2件)：
G01M 17/00 H
, G01M 17/00 J
