特許

J-GLOBAL ID：201503001664590930

分光分析装置

発明者： 松本 光広
出願人/特許権者： 独立行政法人国立高等専門学校機構
代理人 (1件)： 原 信海
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-045758
公開番号（公開出願番号）：特開2015-169584
出願日： 2014年03月07日
公開日（公表日）： 2015年09月28日
要約：

【課題】 複数の領域を同時的に分光分析することができる分光分析装置を提供する。【解決手段】 外筒5の周面に開設された縦スリット51,51,...及び内筒4の周面に開設された横スリット41,41,...を通過した複数の入射光が回折格子3にそれぞれ入射され、回折格子3にて分散されて生じる複数の光スペクトルが内筒4の内面に設けられた投影部6に、前記中心軸と直交する軸に交わる方向へ互いに平行に投影され、投影された各光スペクトルの像が映出器2の表面に映し出されるようになっており、これら各光スペクトルの像は、映出器2に対向配置された撮像器7が内蔵する撮像デバイス上に結像される。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

一軸回りに互いに距離を隔てて設けた複数の入射用窓から内部へそれぞれ入射光が入射されるようになした入射光取得手段と、 該入射光取得手段内に配設してあり、各入射用窓から入射された入射光を各別に分散させる1又は複数の回折格子と、 各入射光が回折格子にて分散されて生成した各光スペクトルの像を一定領域に映し出す映出手段と、 複数の光電変換素子をマトリクス状に設けてなる撮像デバイスを具備し、前記映出手段によって映し出された各光スペクトルの像を撮像デバイス上に結像し、画像データとして出力する撮像器と、 該撮像器から出力された画像データに基づいて、撮像デバイスにおける各光スペクトルの像上の位置とその位置に対応する波長及びその位置における光強度とをそれぞれ分析する分析手段と を備えることを特徴とする分光分析装置。

IPC (2件)：

G01N 21/27 ,  G01J 3/36

FI (3件)：

G01N21/27 A ,  G01N21/27 B ,  G01J3/36

Fターム (20件)：

2G020CB06 ,  2G020CC06 ,  2G020CC43 ,  2G020CC46 ,  2G020CC63 ,  2G020CD06 ,  2G020CD24 ,  2G059AA05 ,  2G059AA06 ,  2G059BB11 ,  2G059BB12 ,  2G059EE02 ,  2G059EE12 ,  2G059EE13 ,  2G059FF01 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ14 ,  2G059KK04 ,  2G059MM10