特許

J-GLOBAL ID：201503002513357768

X線検出器およびX線システム

発明者： ホフマン トーマス ,  ヘーベレ シュテファン ,  シュレクター トーマス
出願人/特許権者： フラウンホッファー-ゲゼルシャフト ツァ フェルダールング デァ アンゲヴァンテン フォアシュンク エー.ファオ
代理人 (2件)： 岡田 全啓 ,  扇谷 一
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2015-512056
公開番号（公開出願番号）：特表2015-523548
出願日： 2013年05月16日
公開日（公表日）： 2015年08月13日
要約：

X線検出器は、第1の検出器モジュール、第2の検出器モジュールおよび操作手段を具備している。第1の検出器モジュールは、第1の検出平面に配置された第1の検出領域を含み、第2の検出器モジュールは、第1の検出領域と隣接している、第2の検出平面に配置された第2の検出領域を含む。第1の検出平面の表面に対する第1の法線および第2の検出平面の表面に対する第2の法線が参照領域の中で交差するように、操作手段は、第1の検出器モジュールの第1の検出平面および第2の検出器モジュールの第2の検出平面を互いに指向するように構成される。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

第1の検出平面(22)に配置された第1の検出領域(22a)を有する第1の検出器モジュール(32a)と、 第2の検出平面(24)に配置された第2の検出領域(24a)を有し、前記第1の検出器モジュール(32a)に隣接した第2の検出器モジュール(32b)と、 前記第1の検出平面(22)の表面(22b)に対する第1の法線および前記第2の検出平面(24)の法線(24b)に対する第2の表面が参照領域の中で交差するように、前記第1の検出器モジュール(32a)の前記第1の検出平面(22)および前記第2の検出器モジュール(32b)の前記第2の検出平面(24)が互いに指向するように構成された操作手段(72)とを含む、ことを特徴とするX線検出器(20;32)。

IPC (3件)：

G01T 7/00 ,  G01N 23/04 ,  G01N 23/08

FI (4件)：

G01T7/00 A ,  G01T7/00 B ,  G01N23/04 ,  G01N23/08

Fターム (16件)：

2G001AA01 ,  2G001BA11 ,  2G001CA01 ,  2G001DA01 ,  2G001DA02 ,  2G001DA07 ,  2G001DA08 ,  2G001DA09 ,  2G188BB02 ,  2G188CC22 ,  2G188DD01 ,  2G188DD05 ,  2G188DD07 ,  2G188DD17 ,  2G188DD24 ,  2G188DD45

引用特許：

出願人引用 (4件)

• 散乱放射線のための補正を有するX線検出器
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2007-517636   出願人：コーニンクレッカフィリップスエレクトロニクスエヌヴィ
• X線検出器
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2000-594364   出願人：コーニンクレッカフィリップスエレクトロニクスエヌヴィ
• 特許第6583420号
  
• 特許第6853420号
  

審査官引用 (6件)

• 特許第6583420号
  
• 特許第6853420号
  
• 散乱放射線のための補正を有するX線検出器
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2007-517636   出願人：コーニンクレッカフィリップスエレクトロニクスエヌヴィ
• X線検出器
  公報種別：公表公報   出願番号：特願2000-594364   出願人：コーニンクレッカフィリップスエレクトロニクスエヌヴィ
• 特許第6583420号
  
• 特許第6853420号