特許
J-GLOBAL ID:201503004047453729

バックラッシ診断システム、工作機械、およびバックラッシ診断方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 東口 倫昭 ,  進藤 素子
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-193929
公開番号(公開出願番号):特開2015-058506
出願日: 2013年09月19日
公開日(公表日): 2015年03月30日
要約:
【課題】バックラッシを抽出可能なバックラッシ診断システム、工作機械、およびバックラッシ診断方法を提供することを課題とする。【解決手段】バックラッシ診断システム10は、検出部520を有するタッチセンサ52と、検出部520に対して所定の移動方向に移動可能な工具台4と、工具台4に取り付けられ、当該移動方向に互いに離間して配置される一対の接触部91a、91bを有する測定用治具9と、検出部520の両側に一対の接触部91a、91bを配置し、測定用治具9を後進させ一方の接触部91aに接触させ、測定用治具9を前進させ他方の接触部91bに接触させることにより、当該移動方向のバックラッシを演算する制御装置2と、を備える。【選択図】図6
請求項(抜粋):
接触を検出可能な検出部を有するタッチセンサと、 該検出部に対して所定の移動方向に移動可能な工具台と、 該工具台に取り付けられ、該移動方向に互いに離間して配置される一対の接触部を有する測定用治具と、 該検出部の該移動方向両側に一対の該接触部を配置し、該測定用治具を該移動方向に後進させ一方の該接触部に接触させ、該測定用治具を該移動方向に前進させ他方の該接触部に接触させることにより、該移動方向のバックラッシを演算する制御装置と、 を備えるバックラッシ診断システム。
IPC (4件):
B23Q 17/00 ,  G05B 19/404 ,  B23Q 15/26 ,  B23Q 15/24
FI (4件):
B23Q17/00 A ,  G05B19/404 G ,  B23Q15/26 ,  B23Q15/24
Fターム (16件):
3C001KA01 ,  3C001KB01 ,  3C001TA02 ,  3C001TB02 ,  3C029EE02 ,  3C269AB02 ,  3C269BB03 ,  3C269CC01 ,  3C269CC17 ,  3C269DD01 ,  3C269EF06 ,  3C269EF12 ,  3C269JJ18 ,  3C269MN04 ,  3C269MN16 ,  3C269MN26

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