特許
J-GLOBAL ID:201503004468981031

クロマトグラフ質量分析装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 吉本 力 ,  新宅 将人
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-210203
公開番号(公開出願番号):特開2015-075355
出願日: 2013年10月07日
公開日(公表日): 2015年04月20日
要約:
【課題】電力の消費量を削減することができるクロマトグラフ質量分析装置を提供する。【解決手段】真空チャンバ21内を真空状態とするための真空ポンプ24を用いて、カラムオーブン13の壁面に形成された中空部13cを真空状態とする。これにより、真空状態の中空部13cを介してカラムオーブン13内の熱が外部に漏れるのを防止することができるため、カラムオーブン13内を加熱するためのヒータ14による電力の消費量が無駄に増加するのを防止し、電力の消費量を削減することができる。【選択図】 図1
請求項(抜粋):
カラムで分離させた試料成分を質量分析部の真空チャンバ内に導き、試料成分をイオン化させることにより質量分析を行うクロマトグラフ質量分析装置であって、 前記カラムを内部に収容するカラムオーブンと、 前記カラムオーブン内を加熱するヒータと、 前記真空チャンバ内を真空状態とするための真空ポンプとを備え、 前記カラムオーブンの壁面には、中空部が形成されており、 前記真空ポンプを用いて、前記中空部が真空状態とされることを特徴とするクロマトグラフ質量分析装置。
IPC (4件):
G01N 30/54 ,  G01N 27/62 ,  G01N 30/72 ,  G01N 30/26
FI (5件):
G01N30/54 D ,  G01N27/62 C ,  G01N27/62 V ,  G01N30/72 A ,  G01N30/26 M
Fターム (4件):
2G041CA01 ,  2G041EA06 ,  2G041GA22 ,  2G041HA01

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