特許
J-GLOBAL ID：201503005320439723
光ファイバの評価方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
特許業務法人 谷・阿部特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-264464
公開番号（公開出願番号）：特開2015-122372
出願日： 2013年12月20日
公開日（公表日）： 2015年07月02日
要約：
【課題】EYDFにおける正確な実質利得-吸収測定ができ、EDFA構成部品を用いてEYDFの利得係数スペクトルの見積りができる光ファイバの評価方法を提供する。【解決手段】信号光を供給する半導体レーザ1と、励起光を供給する励起光レーザ2と、合波器3と、光アイソレータ4とを有する光増幅器を備えた装置においてエルビウム/イッテリビウム添加ファイバ(EYDF)6を評価する光ファイバの評価方法であって、前記光増幅器の入力部および出力部の光部品の損失を測定し、評価対象のEYDFについて、4I13/2準位励起する励起光を用いて、励起光パワーを変えながら小信号利得を測定して励起光パワーと利得との対応関係を求め、求めた励起光パワーと利得との対応関係からεを求めるとともに、前記評価対象のEYDFの吸収損失係数スペクトルα(νs)を求め、ε、α(νs)から前記評価対象のEYDFの利得係数g*(νs)を求める。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
信号光を供給する半導体レーザと、励起光を供給する励起光レーザと、合波器と、光アイソレータとを有する光増幅器を備えた装置においてエルビウム/イッテリビウム添加ファイバ(EYDF)を評価する光ファイバの評価方法であって、
前記光増幅器の入力部および出力部の光部品の損失を測定する第1のステップと、
評価対象のEYDFについて、4I13/2準位励起する励起光を用いて、励起光パワーを変えながら小信号利得を測定して励起光パワーと利得との対応関係を求め、求めた励起光パワーと利得との対応関係を下記式(2)に代入してεを求めるとともに、
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (8件)：
5F172AF03
, 5F172AF06
, 5F172AM08
, 5F172BB35
, 5F172BB45
, 5F172BB48
, 5F172BB96
, 5F172BB99
