特許
J-GLOBAL ID：201503005782078954

サインパネル検査システム、サインパネル検査方法

発明者：
安部 健司

安部 健司 について


出願人/特許権者：
大日本印刷株式会社

大日本印刷株式会社 について


代理人 (1件)： 井上 誠一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-203831
公開番号（公開出願番号）：特開2015-068741
出願日： 2013年09月30日
公開日（公表日）： 2015年04月13日
要約：
【課題】好適に外観検査が可能なサインパネル検査システム等を提供する。【解決手段】サインパネル検査システム1は、カード2に設けられたサインパネル21の欠陥を検査するものであり、カード2に検査光を照射する照明装置4と、カード2から反射した検査光を受光して撮影を行う撮影装置5と、撮影装置5で撮影を行った画像に基づきサインパネル21の欠陥の検査を行う検査装置6と、を備える。照明装置4は、カード2に対し、撮影装置5の方向から検査光を照射する同軸落射照明40と、カード2に対し、撮影装置5の方向とは異なる斜め方向から検査光を照射するバー照明45a、45bと、を有する。検査装置6は、同軸落射照明40下でカード2を撮影した撮影画像から、検査対象となるサインパネル21の領域の抽出を行う。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
基材に設けられたサインパネルの欠陥を検査するサインパネル検査システムであって、 前記基材に検査光を照射する照明装置と、 前記基材から反射した前記検査光を受光して撮影を行う撮影装置と、 前記撮影装置で撮影を行った画像に基づき前記サインパネルの欠陥の検査を行う検査装置と、 を備え、 前記照明装置は、 前記基材に対し、前記撮影装置の方向から検査光を照射する第1の照明と、 前記基材に対し、前記撮影装置の方向とは異なる斜め方向から検査光を照射する第2の照明と、 を有し、 前記検査装置は、 前記第1の照明下で前記基材を撮影した撮影画像から、検査対象となる前記サインパネルの領域の抽出を行うことを特徴とするサインパネル検査システム。
IPC (1件)：
G01N 21/88
FI (1件)：
G01N21/88 Z
Fターム (13件)：
2G051AA90 ,  2G051AB02 ,  2G051AB20 ,  2G051BA01 ,  2G051BA02 ,  2G051BB02 ,  2G051BB03 ,  2G051CA03 ,  2G051CB01 ,  2G051EA17 ,  2G051ED01 ,  2G051ED04 ,  2G051ED21
引用特許：
審査官引用 (8件)
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