特許
J-GLOBAL ID:201503006259516855

視機能解析装置、視機能解析プログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 正林 真之 ,  林 一好
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-140861
公開番号(公開出願番号):特開2015-012964
出願日: 2013年07月04日
公開日(公表日): 2015年01月22日
要約:
【課題】視機能異常における矯正値を容易に得られる視機能解析装置、視機能解析プログラムを提供する。【解決手段】自覚式検眼装置は、被検者眼の斜位検査の検眼情報を分析する視機能解析装置であって、表示部51bと、検眼情報の解析情報を表示部に表示する制御部とを備え、制御部は、解析基準線として、相対輻輳抑制線(RCIL)と、相対輻輳刺激線(RCSL)と、ドンダース線(DL)と、被検眼の斜位線(PL)とを表示し、プリズム量の変更操作に応じて、ドンダース線の表示位置を維持した状態で、相対輻輳抑制線、相対輻輳刺激線、斜位線の表示位置を移動する。【選択図】図5
請求項(抜粋):
被検者眼の斜位検査の検眼情報を分析する視機能解析装置であって、 表示部と、 前記検眼情報の解析情報を前記表示部に表示する制御部とを備え、 前記制御部は、 解析基準線として、相対輻輳抑制線と、相対輻輳刺激線と、ドンダース線と、被検眼の斜位線とを表示し、 プリズム量の変更操作に応じて、前記ドンダース線の表示位置を維持した状態で、前記相対輻輳抑制線、前記相対輻輳刺激線、前記斜位線の表示位置を移動すること、 を特徴とする視機能解析装置。
IPC (2件):
A61B 3/028 ,  A61B 3/08
FI (2件):
A61B3/02 A ,  A61B3/08
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 検眼装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平9-190691   出願人:株式会社ニデック
  • 検眼装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2010-232936   出願人:株式会社ニデック
引用文献:
審査官引用 (4件)
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