特許
J-GLOBAL ID:201503006746955830
先端で大きなファイバ間隔を有する生検針
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
特許業務法人M&Sパートナーズ
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2015-519404
公開番号(公開出願番号):特表2015-527899
出願日: 2013年06月17日
公開日(公表日): 2015年09月24日
要約:
シャフトとチューブ状部材とを有する生検装置が提供される。シャフトは、チューブ状部材の内部に可動に収容され、長手軸と、ベベルを有する末端部とを有する。少なくとも2つのチャネルが、シャフトの内部に、シャフトの長手方向に形成され、チャネル各々はベベル面に開口を形成し、チャネル各々の内部に光ファイバが収容される。更に、抽出される組織を収容するための凹部が、シャフト内に、シャフトの末端部に近接して形成される。ベベルは上方を向く一方で、凹部は側方を向く。
請求項(抜粋):
シャフトとチューブ状部材とを有する生検装置であって、
前記シャフトは、前記チューブ状部材の内部に可動に収容され、長手軸と末端部とを有し、
上方を向くベベルが、前記シャフトの前記末端部に形成され、
少なくとも2つのチャネルが、前記シャフトの内部に、前記シャフトの長手方向に形成され、チャネル各々はベベル面に開口を形成し、前記チャネル各々の内部に光ファイバが収容され、
側方を向く凹部が、前記シャフト内に、前記シャフトの前記末端部に近接して形成される、
生検装置。
IPC (3件):
A61B 10/02
, A61B 10/00
, A61B 1/00
FI (5件):
A61B10/02 300D
, A61B10/02 110J
, A61B10/00 T
, A61B10/00 E
, A61B1/00 300D
Fターム (3件):
4C161GG11
, 4C161HH54
, 4C161JJ17
引用特許:
出願人引用 (3件)
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電磁トラッキング及び光針による生検誘導
公報種別:公表公報
出願番号:特願2010-549215
出願人:コーニンクレッカフィリップスエレクトロニクスエヌヴィ
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磁気共鳴適合性針
公報種別:公表公報
出願番号:特願平9-509989
出願人:ユニバーシティ・カレッジ・ロンドン
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真空補助生検ニードルセット
公報種別:公表公報
出願番号:特願2006-535656
出願人:シュロス・サージカル・システムズ・インコーポレーテッド
審査官引用 (1件)
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