特許
J-GLOBAL ID:201503007717863141

サブマージアーク溶接のための方法およびシステム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (8件): 山崎 行造 ,  赤松 利昭 ,  尾首 亘聰 ,  奥谷 雅子 ,  内藤 忠雄 ,  今井 千裕 ,  小原 正信 ,  逢坂 敦
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2015-526883
公開番号(公開出願番号):特表2015-524749
出願日: 2012年08月14日
公開日(公表日): 2015年08月27日
要約:
本発明は、第1のホットワイヤ(4;4a、4b)を工作物に向けて誘導するステップと、コールドワイヤ(22;22a、22b)を可変送り速度で誘導するステップと、を含む、サブマージアーク溶接のための方法に関する。この方法は、少なくとも前記第1のホットワイヤ(4;4a、4b)に関連する少なくとも第1の活動的溶接パラメータを、溶接フェーズの間に継続的に測定するステップと、コールドワイヤ(22;22a、22b)送り速度を少なくとも第1の活動的溶接パラメータの変動に従って調節して、高い溶接安定性および高い溶接品質を保つステップと、をさらに含む。本発明はまた、この方法を実行するためのシステム(9)に関する。このシステム(9)は、第1のホットワイヤ(4;4a、4b)を工作物に向けて送るためのホットワイヤ送り手段(150)と、コールドワイヤ(22;22a、22b)を可変コールドワイヤ(22;22a、22b)送り速度で送るためのコールドワイヤ送り手段(35)と、第2のワイヤ送り手段(35)を制御するための制御ユニット(31)を備える。このシステム(9)はまた、前記第1のホットワイヤ(4;4a、4b)に関連する少なくとも第1の活動的溶接パラメータを継続的に測定するように適合された測定手段(27)を備える。制御ユニット(31)は、コールドワイヤ(22;22a、22b)送り速度の目標値であって、各々が第1の活動的溶接パラメータ値に対応する、目標値を決定し、前記コールドワイヤ(22;22a、22b)送り速度を前記目標値に調節するように前記第2のワイヤ送り手段(35)を制御する。【選択図】図1a
請求項(抜粋):
-第1のホットワイヤ(4;4a、4b)を工作物に向けて誘導し、アーク発生のために電流を前記第1のホットワイヤ(4;4a、4b)に伝達して、溶接パドル(6)を作成するステップと、 -コールドワイヤ(22;22a、22b)を可変送り速度で前記溶接パドルに向けて誘導するステップと、を含む、サブマージアーク溶接のための方法において、 前記方法が、 -溶接フェーズの間に、少なくとも前記第1のホットワイヤ(4;4a、4b)に関連する少なくとも第1の有効溶接パラメータであって、既存の溶接条件に継続的に適合される、第1の有効溶接パラメータを継続的に測定するステップと、 -前記コールドワイヤ(22;22a、22b)送り速度を、少なくとも第1の活動的溶接パラメータの変動に従って調節して、高い溶接安定性および高い溶接品質を保つステップと、をさらに含むことを特徴とする、方法。
IPC (1件):
B23K 9/18
FI (2件):
B23K9/18 F ,  B23K9/18 C
Fターム (7件):
4E001AA03 ,  4E001BB05 ,  4E001CA00 ,  4E001DC01 ,  4E001DE01 ,  4E001DE03 ,  4E001EA10
引用特許:
出願人引用 (3件) 審査官引用 (3件)

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