特許
J-GLOBAL ID:201503008110277096

推定装置、推定方法および制御方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 水野 勝文 ,  井出 真 ,  須澤 洋
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-020389
公開番号(公開出願番号):特開2013-160538
特許番号:特許第5821669号
出願日: 2012年02月01日
公開日(公表日): 2013年08月19日
請求項(抜粋):
【請求項1】 二次電池の劣化状態の評価に用いられる抵抗変化率を推定する推定装置であって、 下記式(I)を用いて、所定時間が経過したときの前記二次電池の抵抗変化率を算出するコントローラを有する、 ここで、Rrは前記二次電池の抵抗変化率、xは前記二次電池の抵抗を増加させる成分の割合、tは経過時間、kは前記二次電池の抵抗の減少速度、hは前記二次電池の抵抗の減少量、a0は前記二次電池の抵抗の増加速度である、 ことを特徴とする推定装置。
IPC (4件):
G01R 31/36 ( 200 6.01) ,  H01M 10/48 ( 200 6.01) ,  H01M 10/44 ( 200 6.01) ,  B60L 11/18 ( 200 6.01)
FI (4件):
G01R 31/36 ZHV A ,  H01M 10/48 P ,  H01M 10/44 P ,  B60L 11/18 A
引用特許:
出願人引用 (6件)
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