特許
J-GLOBAL ID:201503010325463774

解析装置、解析方法および解析プログラム

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 特許業務法人東京国際特許事務所
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-272463
公開番号(公開出願番号):特開2015-123501
出願日: 2013年12月27日
公開日(公表日): 2015年07月06日
要約:
【課題】固有ひずみデータベースを簡易かつ厳密性高く構築でき、溶接構造物の溶接変形等を簡易かつ厳密性高く解析可能な固有ひずみ法に基づく解析技術を提供する。【解決手段】解析装置20は、溶接のプロセスタイプを含む溶接条件、溶接構造物の母材となる材料及び溶接材料の材料物性値、並びに温度段階を含む溶接諸条件(パラメータ)の入力を受け付け、溶接材料の材料物性値について、プロセスタイプ及び温度段階に応じて受け付けた値と異なる値を設定可能に構成される溶融物性値条件設定手段24と、溶接諸条件と、溶融物性値条件設定手段が設定した溶接材料の材料物性値とを用いて、溶接構造物に発生する固有ひずみ値を導出する固有ひずみ導出手段25と、溶接諸条件と固有ひずみ導出手段が導出した固有ひずみ値とを用いて、溶接構造物に対して有限要素法に基づく弾性計算を行う弾性解析手段26とを具備する。【選択図】 図2
請求項(抜粋):
溶接構造物の溶接後における角変形量および残留応力を解析する装置であり、 溶接のプロセスタイプ、溶接時の溶接速度、電流、電圧、トーチ角度、効率、および溶接ワイヤの供給速度を含む溶接条件と、溶接構造物の母材となる材料および溶接材料の材料物性値、溶接構造物の溶接材料の溶融温度、温度段階、開先形状、並びに板厚等の前記溶接構造物の溶接後における角変形量および残留応力を解析するために必要なパラメータである溶接諸条件の入力を受け付け、前記溶接材料の材料物性値について、前記溶接諸条件に含まれる前記プロセスタイプおよび前記温度段階に応じて受け付けた値と異なる値を設定可能に構成される溶融物性値条件設定手段と、 前記溶接諸条件と、前記溶融物性値条件設定手段が設定した前記溶接材料の材料物性値とを用いて、前記溶接構造物の溶接部に発生する固有ひずみ値を導出する固有ひずみ導出手段と、 前記溶接諸条件と前記固有ひずみ導出手段が導出した前記溶接構造物に発生する固有ひずみ値とを用いて、前記溶接構造物に対して有限要素法に基づく弾性計算を行う弾性解析手段と、を具備することを特徴とする解析装置。
IPC (2件):
B23K 31/00 ,  G01N 3/00
FI (2件):
B23K31/00 F ,  G01N3/00 Q
Fターム (7件):
2G061AA02 ,  2G061AB01 ,  2G061CB19 ,  2G061DA11 ,  2G061DA12 ,  2G061EA03 ,  2G061EA04

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