特許
J-GLOBAL ID：201503010398579100

面取り寸法測定器

発明者：
保坂 幸一

保坂 幸一 について

, 
佐藤 靖也

佐藤 靖也 について


出願人/特許権者：
有限会社幸和工業

有限会社幸和工業 について


代理人 (2件)： 吉井 剛 ,  吉井 雅栄
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-190308
公開番号（公開出願番号）：特開2014-048108
特許番号：特許第5782414号
出願日： 2012年08月30日
公開日（公表日）： 2014年03月17日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 ネジピッチを√2/2mm若しくは√2/4mmに設定したネジ部を有するスピンドル部と、このスピンドル部の前記ネジ部と螺合し、外面に√2/2mmの等間隔で複数の目盛り線を設けると共に該目盛り線の一間隔が1mmとして読めるように数値を表示した、若しくは√2/4mmの等間隔で複数の目盛り線を設けると共に該目盛り線の一間隔が0.5mmとして読めるように数値を表示した主目盛部を設けたスリーブ部と、前記主目盛部の最小目盛以下の数値を読み取ることができる補助目盛部を外面に設けると共に、前記スピンドル部と連結し前記スリーブ部に回動自在に設けて回動操作することで前記スリーブ部に対して前記スピンドル部を前進させるシンブル部とで構成した測定体と、被測定体のC面取りした角部を形成する直交する二面に当接する直交状態に設けた二面から成る構成とすると共に、前記二面のいずれか一方の面を凸状曲面形状に形成して、前記被測定体のC面取りした角部を形成する直交する二面の一方の面が凹状曲面形状でも面取り寸法を確知できるように構成した当接面を備え、この当接面を前記被測定体の前記直交する二面に当接させることによって前記測定体の測定位置を位置決めるように構成した位置決め基体とから成り、この位置決め基体の当接面を前記被測定体のC面取りした角部を形成する直交する二面に当接させてこの位置決め基体に設けた前記測定体を測定位置に位置決めした状態で、前記シンブル部を回動操作して先端部位置をゼロ点位置に合わせた前記スピンドル部を前進させてこのスピンドル部の先端部を前記角部の面取り面に当接させた際の、前記スリーブ部に設けた前記主目盛部と前記シンブル部に設けた前記補助目盛部とから読み取れる値が、前記角部の面取り寸法を示すように構成したことを特徴とする面取り寸法測定器。
IPC (1件)：
G01B 3/18 ( 200 6.01)
FI (1件)：
G01B 3/18
引用特許：
出願人引用 (3件) 審査官引用 (4件)
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