特許

J-GLOBAL ID：201503012264728730

検査装置、検査方法およびプログラム

発明者： 木股 浩之 ,  石坂 哲
出願人/特許権者： 三菱電機株式会社
代理人 (3件)： 木村 満 ,  八島 耕司 ,  美恵 英樹
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2012057636
公開番号（公開出願番号）：WO2013-140630
出願日： 2012年03月23日
公開日（公表日）： 2013年09月26日
要約：

被検査基板(10)に電磁波による静電気を印加した場合、或いは、被検査基板(10)のグランドに試験ノイズを印加した場合に、検査装置(20_1)は、増幅回路(K1)のOUT端子から被検査基板(10)のグランドまでの経路をノイズが伝導するか否かを、検査装置(20_2)は、増幅回路(K2)のOUT端子から被検査基板(10)のグランドまでの経路をノイズが伝導するか否かを、その回数と共に、検査する。(選択図)図1

請求項（抜粋）：

回路に複数回印加されたノイズの、前記回路上の経路の伝導を検出する検出部と、 前記検出部により検出された前記経路における前記ノイズの伝導回数を計数する計数部と、 前記計数部により計数された前記ノイズの伝導回数を表示する表示部と、 を備える検査装置。

IPC (2件)：

G01R 31/00 ,  G01R 29/26

FI (2件)：

G01R31/00 ,  G01R29/26 D

Fターム (3件)：

2G036AA10 ,  2G036BB12 ,  2G036CA10