特許
J-GLOBAL ID:201503012825832035
光増幅器が集積された光変調素子の評価法ならびに評価装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
特許業務法人 谷・阿部特許事務所
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-050517
公開番号(公開出願番号):特開2013-186250
特許番号:特許第5806148号
出願日: 2012年03月07日
公開日(公表日): 2013年09月19日
請求項(抜粋):
【請求項1】 広い発光スペクトルを有する光増幅器と前記光増幅器の後段に位置する光変調器とが集積された光変調素子の評価法であって、
入力信号光が無い状態で前記光増幅器に電流を印加するステップと、
電流が印加されたことにより前記光増幅器から発せられた広い発光スペクトルを有する光が透過する前記光変調器に電圧を印加するステップと、
前記光変調器から出射された前記光から特定波長を通過させる狭帯域な光バンドパスフィルタを通した後に光-電気変換素子により受光するステップと、
前記光変調器に印加した電圧と前記光-電気変換素子から出力された電気信号とを関連付けるステップと
を有することを特徴とする光変調素子の評価法。
IPC (3件):
G02F 1/01 ( 200 6.01)
, G02F 1/025 ( 200 6.01)
, G01M 11/00 ( 200 6.01)
FI (3件):
G02F 1/01 Z
, G02F 1/025
, G01M 11/00 T
引用特許:
出願人引用 (7件)
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変調器集積化光源のチャープ測定方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平11-364146
出願人:日本電気株式会社
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半導体発光素子
公報種別:公開公報
出願番号:特願2007-223082
出願人:住友電気工業株式会社
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光半導体装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2008-041388
出願人:日本電信電話株式会社
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審査官引用 (4件)