特許

J-GLOBAL ID：201503014406985134

学習装置、密度計測装置、学習方法、学習プログラム、及び密度計測システム

発明者： ファン ヴェトクォク
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (2件)： 酒井 宏明 ,  宮田 英毅
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-031847
公開番号（公開出願番号）：特開2015-158712
出願日： 2014年02月21日
公開日（公表日）： 2015年09月03日
要約：

【課題】密度計算を高精度で且つ低メモリで行うためのデータを提供する。【解決手段】第1抽出部10は、学習画像から複数の第1部分画像を抽出する。第1計算部11は、第1部分画像の特徴量を計算する。探索部12は、第1部分画像に含まれる物体を探索し、第1部分画像における第1位置と該第1部分画像に含まれる全ての物体の各々との相対位置を表すベクトルをラベルとして特徴量に付与する。投票部13は、複数の第1部分画像の各々について投票ヒストグラムを生成する。学習部14は、複数の第1部分画像の各々に対応する特徴量を、対応する投票ヒストグラムのばらつきが小さくなるように複数のクラスタに分割することによって、第1部分画像の特徴量と第1部分画像に含まれる物体の相対位置との関係を示す回帰モデルを学習する。第1予測部15は、複数のクラスタの各々について、クラスタに属する特徴量に付与されたラベルから代表ラベルを予測する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

学習画像から複数の第1部分画像を抽出する第1抽出部と、 前記第1部分画像の特徴量を計算する第1計算部と、 前記第1部分画像に含まれる物体を探索し、前記第1部分画像における第1位置と該第1部分画像に含まれる全ての物体の各々との相対位置を表すベクトルを、ラベルとして前記特徴量に付与する探索部と、 複数の前記第1部分画像の各々について、前記相対位置の分布を表すヒストグラムを算出し、パラメータ空間に投票した投票ヒストグラムを生成する投票部と、 複数の前記第1部分画像の各々に対応する前記特徴量を、対応する前記投票ヒストグラムのばらつきが小さくなるように複数のクラスタに分割することによって、前記第1部分画像の特徴量と前記第1部分画像に含まれる物体の相対位置との関係を示す回帰モデルを学習する学習部と、 複数の前記クラスタの各々について、前記クラスタに属する前記特徴量に付与された前記ラベルから、代表ラベルを予測する第1予測部と、 を備えた学習装置。

IPC (1件)：

G06T 7/00

FI (1件)：

G06T7/00 350B

Fターム (9件)：

5L096FA32 ,  5L096FA33 ,  5L096FA35 ,  5L096FA69 ,  5L096FA74 ,  5L096GA34 ,  5L096JA11 ,  5L096KA04 ,  5L096MA07