特許

J-GLOBAL ID：201503015803624357

画像処理装置、立体形状計測装置および画像処理方法

発明者： 青木 晋
出願人/特許権者： 株式会社東光高岳
代理人 (1件)： 特許業務法人東京国際特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-055423
公開番号（公開出願番号）：特開2015-178961
出願日： 2014年03月18日
公開日（公表日）： 2015年10月08日
要約：

【課題】円形状の輪郭を有する穴部の位置を画像から正確に検出することができる画像処理装置、立体形状計測装置および画像処理方法を提供する。【解決手段】本発明の一実施形態に係る画像処理装置10は、画像取得部21、画素種別推定部22および特徴量算出部23を備える。画像取得部21は、円形状の輪郭を有する穴部が設けられた表面の画像を取得する。画素種別推定部22は、取得した画像の各画素の濃度が、表面に属する画素の濃度範囲ならびに穴部の輪郭に内包される画素および穴部の輪郭が属する画素の濃度範囲の2種の濃度範囲のいずれに属するかに応じて、穴部の輪郭に内包される画素および穴部の輪郭が属する画素を推定する。特徴量算出部23は、穴部の輪郭に内包される画素および穴部の輪郭が属する画素の濃度分布にもとづいて穴部の半径および中心位置を求める。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

円形状の輪郭を有する穴部が設けられた表面の画像を取得する画像取得部と、 取得した画像の各画素の濃度が、前記表面に属する画素の濃度範囲ならびに前記穴部の輪郭に内包される画素および前記穴部の輪郭が属する画素の濃度範囲の2種の濃度範囲のいずれに属するかに応じて、前記穴部の輪郭に内包される画素および前記穴部の輪郭が属する画素を推定する画素種別推定部と、 前記穴部の輪郭に内包される画素および前記穴部の輪郭が属する画素の濃度分布にもとづいて前記穴部の半径および中心位置を求める特徴量算出部と、 を備えた画像処理装置。

IPC (5件)：

G01B 11/08 ,  G06T 7/60 ,  G06T 1/00 ,  G01B 11/00 ,  G01B 11/24

FI (8件)：

G01B11/08 H ,  G06T7/60 200C ,  G06T7/60 300A ,  G06T7/60 150J ,  G06T7/60 150C ,  G06T1/00 305A ,  G01B11/00 H ,  G01B11/24 K

Fターム (40件)：

2F065AA12 ,  2F065AA17 ,  2F065AA27 ,  2F065AA31 ,  2F065AA53 ,  2F065CC26 ,  2F065FF04 ,  2F065FF10 ,  2F065FF44 ,  2F065JJ19 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL59 ,  2F065QQ08 ,  2F065QQ13 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ26 ,  2F065QQ31 ,  2F065QQ42 ,  2F065QQ43 ,  5B057AA03 ,  5B057DA03 ,  5B057DA07 ,  5B057DA08 ,  5B057DB03 ,  5B057DB09 ,  5B057DC03 ,  5B057DC04 ,  5B057DC06 ,  5B057DC09 ,  5B057DC14 ,  5B057DC22 ,  5L096AA06 ,  5L096FA04 ,  5L096FA06 ,  5L096FA59 ,  5L096FA60 ,  5L096FA62 ,  5L096FA64 ,  5L096GA34