特許
J-GLOBAL ID:201503016124583175

パターンの評価方法、多成分物質の評価方法、評価プログラム、及び評価装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 須藤 雄一 ,  須藤 大輔
公報種別:再公表公報
出願番号(国際出願番号):JP2012003602
公開番号(公開出願番号):WO2012-164946
出願日: 2012年05月31日
公開日(公表日): 2012年12月06日
要約:
多成分物質の評価の精度及び効率を向上させることを可能とする。 評価対象となる多成分物質の3Dクロマトから特定の検出波長におけるFPを対象FPとして作成するFP作成部3と、対象FPと基準FPとのピークそれぞれに対し時間軸方向前後の少なくとも一方に存在するn本のピークを含めたn+1本のピークで構成されるピーク・パターンを作成するピーク・パターン作成部7と、ピーク・パターン及びピークのUVスペクトルを比較し対応するピークを特定するピーク帰属部9と、帰属したピークと複数の基準FPのピークとを比較評価する評価部11とを備えたことを特徴とする。
請求項(抜粋):
時系列でピークが変化する評価対象の対象パターンを取得するパターン取得工程と、 前記対象パターンとこの対象パターンに対応し評価基準となる基準パターンのピークそれぞれに対し時間軸方向前後位置の少なくとも一方に存在するn本のピークを含めたn+1本のピークによりそれぞれのピーク・パターンを作成するピーク・パターン作成工程と、 前記それぞれのピーク・パターンを比較し対応するピークを特定するピーク帰属工程と、 このピーク帰属工程で特定されて帰属したピークと評価基準となる複数の基準パターンのピークとを比較評価する評価工程と、 を備えたことを特徴とするパターンの評価方法。
IPC (2件):
G01N 30/86 ,  G01N 30/88
FI (3件):
G01N30/86 E ,  G01N30/86 M ,  G01N30/88 A

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