特許
J-GLOBAL ID：201503016629372072
車載コネクタの導通不良検出装置、および車載コネクタ
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
恩田 誠
, 恩田 博宣
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-107187
公開番号（公開出願番号）：特開2015-222688
出願日： 2014年05月23日
公開日（公表日）： 2015年12月10日
要約：
【課題】ECUに搭載される車載コネクタの導通不良を検出することのできる導通不良検出装置を提供する。【解決手段】ECUは、マイコン23や、基板側コネクタを備え、基板側コネクタは、複数のメス端子30および単一のメス端子32を備える。単一のメス端子32には、オス端子40を介してダミーラインL2が接続されており、ダミーラインL2は、マイコン23が処理を実行する期間において、常時論理「H」状態とされる。メス端子32とオス端子40との間に導通不良がない場合、スイッチング素子50がオンし、端子T2の電圧は論理「L」となる一方、導通不良が生じると、スイッチング素子50がオフとなり、端子T2に論理「H」の電圧が印加される。メス端子32はメス端子30よりもオス端子40を押さえつける荷重が小さく設定されている。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
車載電子基板に搭載されるコネクタであって複数のオス端子および複数のメス端子のいずれか一方を備える基板側コネクタと、
複数のオス端子および複数のメス端子のいずれか他方を備える外部側コネクタと、
前記複数のオス端子のうちの第1オス端子および該第1オス端子が挿入される第1メス端子間の導通不良を検出する導通不良検出部と、を備え、
前記基板側コネクタおよび前記外部側コネクタの少なくとも一方には、前記第1オス端子および前記第1メス端子間の摩耗による劣化を前記複数のオス端子のうちの第2オス端子および該第2オス端子が挿入される第2メス端子間の摩耗による劣化よりも促進する劣化促進加工が施されている車載コネクタの導通不良検出装置。
IPC (3件)：
H01R 43/00
, B60R 16/02
, H01R 13/03
H01R43/00 Z
, B60R16/02 650J
, H01R13/03 D
