表示デバイスの表示むら検出方法及びその装置

発明者： ,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：三好秀和 , 伊藤正和 , 松永宣行
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2012055271
公開番号（公開出願番号）：WO2013-128616
出願日： 2012年03月01日
公開日（公表日）： 2013年09月06日
要約：

表示デバイスの表示むらをより高い精度で検出する。 CCDカメラ(5)から取得した液晶パネルディスプレイ(3)の表示画像の出力画像データをアドレッシングして、液晶パネルディスプレイ(3)の各画素の画素値を取得する。そして、液晶パネルディスプレイ(3)の表示むらを検出するために各画素の微分画素値を取得する。その際に、各画素の画素値を周辺画素の画素値と平均化することで積分画素値を取得し、積分画素値を元の対応する画素の画素値から差し引いて、その残りを各画素の微分画素値として取得する。積分及び差分によって微分画素値を取得することで、隣接画素の画素値分布からオフセット等の低周波成分を除去し、表示むらと同じ高周波成分を残すことができる。これにより、出力画像データと入力画像データとの差分によって各画素の微分画素値を取得するよりも、液晶パネルディスプレイ(3)の表示むらをより高い精度で検出することができる。

請求項（抜粋）：

表示デバイスが表示した画像を撮影して得た出力画像データに基づいて、前記表示デバイスの各画素の画素値を取得する画素値取得ステップと、前記表示デバイスの表示むらの形状及び大きさに対応したカーネルサイズの空間フィルタを用いて前記表示デバイスの各画素値を周辺画素の画素値と平均化することで積分し、前記表示デバイスの各画素の積分画素値を取得する積分ステップと、前記表示デバイスの各画素における前記画素値と前記積分画素値との差分により、前記表示デバイスの各画素の微分画素値を取得する微分ステップと、前記表示デバイスの前記微分画素値が所定のむら判定閾値を超える画素の分布に基づいて、前記表示デバイスにおける前記表示むらの発生エリアを検出するむらエリア検出ステップと、を含む表示デバイスの表示むら検出方法。

IPC (3件)：

G09G 3/36 , G09G 3/20 , G09G 3/30

FI (6件)：

G09G3/36 , G09G3/20 642A , G09G3/20 642P , G09G3/20 670Q , G09G3/30 Z , G09G3/20 631V

Fターム (44件)：

5C006AA22 , 5C006AF13 , 5C006AF41 , 5C006AF46 , 5C006AF53 , 5C006AF54 , 5C006AF61 , 5C006AF78 , 5C006BF15 , 5C006BF38 , 5C006EB01 , 5C006EC01 , 5C006FA22 , 5C080AA05 , 5C080AA06 , 5C080AA10 , 5C080BB05 , 5C080CC03 , 5C080DD05 , 5C080DD15 , 5C080GG07 , 5C080JJ01 , 5C080JJ02 , 5C080JJ05 , 5C080JJ07 , 5C380AA01 , 5C380AB04 , 5C380AB34 , 5C380BA36 , 5C380BB04 , 5C380CF17 , 5C380CF18 , 5C380CF20 , 5C380CF62 , 5C380CF66 , 5C380DA31 , 5C380EA02 , 5C380FA05 , 5C380FA21 , 5C380FA23 , 5C380FA28 , 5C380GA01 , 5C380GA02 , 5C380GA18

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