特許
J-GLOBAL ID：201503016899023532
真空度劣化検出装置付き真空開閉器及び真空開閉器の真空度劣化検出方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (4件)：
村上 啓吾
, 大岩 増雄
, 吉澤 憲治
, 竹中 岑生
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-550186
特許番号：特許第5721863号
出願日： 2012年11月19日
請求項（抜粋）：
【請求項1】真空バルブと、前記真空バルブを開閉する操作機構と、前記真空バルブの真空度の劣化を判定する真空度劣化検出装置を有する真空度劣化検出装置付き真空開閉器において、
前記真空バルブは、真空容器と固定接触子と可動接触子と封止部材とを有し、
前記固定接触子と前記可動接触子とが対向方向に接離可能に前記真空容器に収容されるとともに前記固定接触子が前記真空容器に固定され、前記可動接触子が前記封止部材により前記真空容器内の気密状態を維持しつつ前記対向方向に移動可能にされたものであり、
前記可動接触子は前記操作機構により前記対向方向に往復駆動されるものであり、
前記真空度劣化検出装置は、荷重センサと信号処理装置とを有し、
前記荷重センサは、前記真空容器に連結され前記真空容器に作用する前記対向方向の力を受けて出力信号に変換するものであり、前記信号処理装置は前記出力信号に基づいて前記真空容器内の真空度の劣化を判定し、
前記信号処理装置による前記真空度の劣化の判定は、前記真空容器内外の圧力差によって生じる前記固定接触子と前記可動接触子との間に作用する自閉力の消失の判定によって行われる真空度劣化検出装置付き真空開閉器。
IPC (3件)：
H01H 33/668 ( 200 6.01)
, H02B 13/02 ( 200 6.01)
, H02B 13/065 ( 200 6.01)
H01H 33/668 K
, H02B 13/04 G
, H02B 13/06 C
