特許

J-GLOBAL ID：201503017045427571

量子状態測定装置および方法

発明者： 角柳 孝輔 ,  松崎 雄一郎 ,  齊藤 志郎 ,  中ノ 勇人
出願人/特許権者： 日本電信電話株式会社
代理人 (3件)： 山川 政樹 ,  山川 茂樹 ,  小池 勇三
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-165901
公開番号（公開出願番号）：特開2015-035129
出願日： 2013年08月09日
公開日（公表日）： 2015年02月19日
要約：

【課題】量子ビットの量子状態測定において発生する測定エラーに起因する可視度の低下を抑制し、測定精度が向上できるようにする。【解決手段】量子状態検出部101は、測定対象の量子ビット104の量子状態を3回以上量子非破壊測定し、それぞれの量子非破壊測定に対応する複数の測定結果を出力する。量子状態推定部102は、量子状態検出部101が出力した複数の測定結果の総和と、設定されている基準値とを比較することで、量子ビット104の量子状態を推定する。【選択図】 図1

請求項（抜粋）：

測定対象の量子ビットの量子状態を3回以上量子非破壊測定し、それぞれの量子非破壊測定に対応する複数の測定結果を出力する量子状態検出手段と、 前記量子状態検出手段が出力した複数の測定結果の総和と、設定されている基準値とを比較することで、前記量子ビットの量子状態を推定する量子状態推定手段と を備えることを特徴とする量子状態測定装置。

IPC (3件)：

G06N 99/00 ,  G06F 7/49 ,  H01L 39/22

FI (3件)：

G06N99/00 ,  G06F7/49 Z ,  H01L39/22 D

Fターム (3件)：

4M113AC03 ,  4M113AC46 ,  4M113AC50