特許
J-GLOBAL ID：201503017471595083
生検装置のための制御
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
加藤 公延
, 大島 孝文
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2015-515040
公開番号（公開出願番号）：特表2015-523118
出願日： 2013年05月20日
公開日（公表日）： 2015年08月13日
要約：
例示的な生検システムは、プローブを有する生検装置を含む。プローブは、遠位に延びる針と、針に対して動くことができるカッターと、を含む。プローブはまた、プローブの近位端部に取り外し可能に連結された組織標本ホルダーを含む。生検システムは、生検システムが生検装置に真空を与え、カッターを近位位置まで後退させ、カッターを遠位位置まで前進させ、標本を組織標本ホルダーまで運搬する、サイクルを有する。生検システムは、生検装置の動作中にそのサイクルの持続時間を調節することができる。
請求項（抜粋）：
生検装置を含む生検システムにおいて、
前記生検装置はプローブを含み、前記プローブは、
(a)前記プローブから遠位に延びる針と、
(b)前記針に対して動くことができるカッターと、
(c)前記プローブの近位端部に取り外し可能に連結された組織標本ホルダーと、
を含み、
前記生検システムは、前記生検装置に真空を与え、前記カッターを近位位置まで後退させ、前記カッターを遠位位置まで前進させ、前記組織標本ホルダーまで標本を運搬するように、サイクルで動作可能であり、
前記生検システムは、前記生検システムの前記サイクル中に前記生検システムの前記サイクルの持続時間を調節するように構成される、生検システム。
IPC (1件)：
FI (1件)：
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