特許

J-GLOBAL ID：201503017703537972

被測定物の特性を測定するための測定装置

発明者： 神波 誠治 ,  近藤 孝志 ,  田中 功二
出願人/特許権者： 株式会社村田製作所
代理人 (1件)： 特許業務法人深見特許事務所
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2012077563
公開番号（公開出願番号）：WO2013-128707
出願日： 2012年10月25日
公開日（公表日）： 2013年09月06日
要約：

本発明は、被測定物の特性を測定するための測定装置であって、所定の周波数分布を有する電磁波を照射するための少なくとも1つの光源と、前記電磁波が照射される位置に配置される、測定の際に前記被測定物を表面に保持するための空隙配置構造体と、前記空隙配置構造体を透過した前記電磁波である透過光、または、前記空隙配置構造体によって反射された前記電磁波である反射光を検出するための検出器と、前記光源、前記空隙配置構造体および前記検出器を格納するための筐体とを備えることを特徴とする、測定装置である。

請求項（抜粋）：

被測定物の特性を測定するための測定装置であって、 所定の周波数分布を有する電磁波を照射するための少なくとも1つの光源と、 前記電磁波が照射される位置に配置される、測定の際に前記被測定物を表面に保持するための空隙配置構造体と、 前記空隙配置構造体を透過した前記電磁波である透過光、または、前記空隙配置構造体によって反射された前記電磁波である反射光を検出するための検出器と、 前記光源、前記空隙配置構造体および前記検出器を格納するための筐体とを備えることを特徴とする、測定装置。

IPC (2件)：

G01N 21/358 ,  G01N 21/01

FI (2件)：

G01N21/35 105 ,  G01N21/01 B

Fターム (11件)：

2G059AA01 ,  2G059CC16 ,  2G059DD13 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059GG01 ,  2G059GG10 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ02 ,  2G059KK09 ,  2G059MM05