特許
J-GLOBAL ID:201503017719994133

受光パワーモニタの校正装置及び校正方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 机 昌彦 ,  下坂 直樹
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2014-530518
特許番号:特許第5822026号
出願日: 2013年08月01日
請求項(抜粋):
【請求項1】 光モジュールの受光パワーモニタの校正装置であって、 信号光の受光パワーの測定値を校正するときに参照されて複数の参照値と複数の現実値との相関関係に基づいて予め複数の校正値を記憶した校正テーブルを格納する記憶部と、 信号光の受光パワーの測定値を示す入力値が前記校正テーブルの参照値と一致する場合には当該参照値に対応付けられている校正値を前記校正テーブルから読み出し、入力値が前記校正テーブルの参照値と一致しない場合には入力値に基づいて所定の演算式に従って校正値を算出する信号処理部とを具備し、 参照値の変化に対して現実値の変化が小さい区間では、参照値の変化に対して現実値の変化が大きい区間に比べて、複数の参照値の間隔を小さくして複数の校正値を前記校正テーブルに記憶するようにした校正装置。
IPC (5件):
H03M 1/10 ( 200 6.01) ,  H04B 10/075 ( 201 3.01) ,  H04B 10/66 ( 201 3.01) ,  G01J 1/44 ( 200 6.01) ,  H03M 1/12 ( 200 6.01)
FI (6件):
H03M 1/10 A ,  H04B 9/00 175 ,  H04B 9/00 660 ,  G01J 1/44 A ,  H03M 1/12 A ,  H03M 1/12 C

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