特許
J-GLOBAL ID:201503017834675726

開口パターンの設計方法、画像の復元方法および画像復元装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (3件): 松阪 正弘 ,  田中 勉 ,  井田 正道
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2014-057916
公開番号(公開出願番号):特開2015-185872
出願日: 2014年03月20日
公開日(公表日): 2015年10月22日
要約:
【課題】狭い波長帯の光にて撮像を行う場合であっても、良好な画像復元を行う。【解決手段】画像復元装置として機能する位置合わせ装置の撮像部では、開口パターンを有する開口絞りが設けられる。開口パターンの設計では、複数の候補パターンが準備される。各候補パターンのPSFは演算により多階調の画像として求められる(ステップS22)。光の波長帯は狭く、PSFにはエアリーパターンが現れる。PSFを利用して各候補パターンの評価値が求められる(ステップS23)。評価値は、PSFを用いてボケ画像を復元する際の精度を示すものである。評価値に基づいて、複数の候補パターンの1つが選択される(ステップS30)。多階調のPSFを利用することにより、狭い波長帯の光にて撮像を行う場合であっても、良好な画像復元を実現する開口パターンを設計することができる。【選択図】図4
請求項(抜粋):
画像復元装置の撮像部にて利用される開口パターンの設計方法であって、 a)開口パターンである複数の候補パターンを準備する工程と、 b)予め定められた位置に点光源が配置された場合に、前記複数の候補パターンのそれぞれを介して前記撮像部にて取得され、かつ、エアリーパターンが現れる点広がり関数を、多階調の画像として取得する工程と、 c)前記予め定められた位置に撮像対象を配置した場合に得られるボケ画像を、前記b)工程にて得られた複数の点広がり関数のそれぞれを用いて復元する際の精度を示す評価値を取得する工程と、 d)前記c)工程にて得られた複数の評価値に基づいて、前記複数の候補パターンの1つを選択する工程と、 を備えることを特徴とする開口パターンの設計方法。
IPC (1件):
H04N 5/232
FI (1件):
H04N5/232 Z
Fターム (7件):
5C122DA12 ,  5C122FH06 ,  5C122FH11 ,  5C122FH14 ,  5C122GG02 ,  5C122GG05 ,  5C122HB01
引用特許:
出願人引用 (1件)
引用文献:
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