特許

J-GLOBAL ID：201503018708658684

イオン-イオン反応のための試薬イオンの発生

発明者： キャンベル, ジョン エル. ,  ルブラン, イーブス
出願人/特許権者： ディーエイチ テクノロジーズ デベロップメント プライベート リミテッド
代理人 (2件)： 山本 秀策 ,  森下 夏樹
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-549551
公開番号（公開出願番号）：特表2015-503745
出願日： 2012年12月07日
公開日（公表日）： 2015年02月02日
要約：

試薬イオン発生器を使用して、PTRおよびETD等のイオン-イオン反応において使用するために、質量分析計の内側領域内で試薬イオンの発生を可能にする、装置、システム、および方法が、提供される。これらの試薬イオンが発生される場所は、作用点、すなわち、試薬イオンおよび検体イオンが、イオン-イオン反応を介して相互作用し、例えば、PTRおよび/またはETDを生じさせるであろう反応域に可能な限り近接して存在することができる。

請求項（抜粋）：

質量分析計システムであって、 第1のチャンバと、 前記第1のチャンバに結合された試薬イオン発生器と を備え、 前記イオン発生器は、 近位端から遠位端に延在する中空導管であって、前記近位端は、試薬分子を源から前記導管に導入するために適合され、前記遠位端は、前記第1のチャンバの内側に配置されている、中空導管と、 少なくとも部分的に前記中空導管内に配置され、近位部分から遠位先端部分に延在する電気伝導ワイヤであって、前記遠位先端部分は、前記導管の前記遠位端に近接して位置付けられている、電気伝導ワイヤと、 前記ワイヤの一部に電気的に結合するために適合されている電圧源であって、前記電圧源は、前記ワイヤの前記遠位先端部分に近接して放電を生じさせるために十分な電圧を前記ワイヤに印加する、電圧源と を備えている、質量分析計システム。

IPC (2件)：

G01N 27/62 ,  G01N 27/68

FI (4件)：

G01N27/62 G ,  G01N27/62 V ,  G01N27/68 ,  G01N27/62 101

Fターム (18件)：

2G041CA01 ,  2G041CA02 ,  2G041DA07 ,  2G041DA10 ,  2G041DA18 ,  2G041DA20 ,  2G041FA10 ,  2G041FA11 ,  2G041FA12 ,  2G041GA03 ,  2G041GA06 ,  2G041GA08 ,  2G041GA13 ,  2G041GA22 ,  2G041GA23 ,  2G041GA29 ,  2G041HA03 ,  2G041KA01