特許
J-GLOBAL ID：201503018872017950
バグ密度指標値算出装置及びバグ密度指標値算出方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
三好 秀和
, 工藤 理恵
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-097297
公開番号（公開出願番号）：特開2013-225227
特許番号：特許第5749214号
出願日： 2012年04月23日
公開日（公表日）： 2013年10月31日
請求項（抜粋）：
【請求項1】 バグ実績数を開発規模で割ったバグ密度実績値をソフトウェアの版毎に記憶する記憶手段と、
前記記憶手段から前記バグ密度実績値を読み出して指数近似し、前記ソフトウェアの版毎のバグ密度近似値を計算する近似値計算手段と、
前記バグ密度実績値を前記バグ密度近似値で割ったばらつきの対数をとった対数値を前記ソフトウェアの版毎に計算し、当該対数値の平均と標準偏差からばらつき許容最小値とばらつき許容最大値を計算するばらつき許容値計算手段と、
前記ソフトウェアの最新版の前記バグ密度近似値に次版の難易度評価値と前記ばらつき許容最小値あるいは前記ばらつき許容最大値を掛けてバグ密度指標値を計算するバグ密度指標値計算手段と、
を有することを特徴とするバグ密度指標値算出装置。
IPC (2件)：
G06F 9/44 ( 200 6.01)
, G06F 11/36 ( 200 6.01)
G06F 9/06 620 J
, G06F 9/06 620 M
