特許
J-GLOBAL ID：201503019320764624

自動分析装置

発明者：
足立 作一郎

足立 作一郎 について

, 
前嶋 宗郎

前嶋 宗郎 について

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山崎 功夫

山崎 功夫 について

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三村 智憲

三村 智憲 について


出願人/特許権者：
株式会社日立ハイテクノロジーズ

株式会社日立ハイテクノロジーズ について


代理人 (3件)： 平木 祐輔 ,  関谷 三男 ,  渡辺 敏章
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-181323
公開番号（公開出願番号）：特開2015-007649
出願日： 2014年09月05日
公開日（公表日）： 2015年01月15日
要約：
【課題】積分時間を確保しながらも複数の角度で散乱光を受光することができる自動分析装置を提供する。【解決手段】サンプルと試薬とが混合した反応液7を収めたセル8を円周上に保持し、光源15bからの照射光16aがセル中の反応液に照射されることによる散乱光16cをそれぞれ異なる角度で受光するように、セルディスクの回転方向に垂直な面内に配置される複数の光学系と、複数の光学系から導かれた光を受光する散乱光受光器33a〜33cとを配置する。複数の光学系は、ファイバ又はレンズである。【選択図】図16
請求項（抜粋）：
サンプルと試薬とが混合した反応液を収めたセルを円周上に保持し、回転と停止を繰り返すセルディスクと、 光源と、 前記光源からの照射光が前記セル中の反応液に照射されることによる散乱光をそれぞれ異なる角度で受光する複数の光学系と、 前記複数の光学系から導かれた光を受光する散乱光受光器とを有し、 前記複数の光学系は、前記セルディスクの回転方向に垂直な面内に配置されている ことを特徴とする自動分析装置。
IPC (3件)：
G01N 21/49 ,  G01N 21/78 ,  G01N 35/04
FI (3件)：
G01N21/49 Z ,  G01N21/78 Z ,  G01N35/04 A
Fターム (36件)：
2G054AA07 ,  2G054CA21 ,  2G054EA04 ,  2G054EA05 ,  2G054EB02 ,  2G054EB14 ,  2G054FA06 ,  2G054FA16 ,  2G054FA17 ,  2G054FA18 ,  2G054FA32 ,  2G054FA40 ,  2G054FB05 ,  2G054GA05 ,  2G058AA09 ,  2G058BB02 ,  2G058BB09 ,  2G058BB16 ,  2G058BB17 ,  2G058CD04 ,  2G058GA02 ,  2G058GA08 ,  2G059AA01 ,  2G059BB13 ,  2G059CC16 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE11 ,  2G059FF11 ,  2G059GG01 ,  2G059GG02 ,  2G059HH02 ,  2G059JJ05 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK04
引用特許：
出願人引用 (8件)
  • 特許第5318206号
  • 光計測装置および光計測方法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2007-319704   出願人：古河電気工業株式会社
  • 特開昭55-017440
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審査官引用 (8件)
  • 特許第5318206号
  • 特開昭55-017440
  • 光計測装置および光計測方法
    公報種別：公開公報   出願番号：特願2007-319704   出願人：古河電気工業株式会社
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