特許

J-GLOBAL ID：201503019783634274

撮像装置及び焦点検出方法

発明者： 中岡 宏
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 別役 重尚
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-193183
公開番号（公開出願番号）：特開2015-060047
出願日： 2013年09月18日
公開日（公表日）： 2015年03月30日
要約：

【課題】手ぶれ等による像ぶれを低減させるためにレンズを駆動しているときのAF制御を高い精度で行うことができる撮像装置を提供する。【解決手段】撮像光学系101により結像された光学像を撮像素子104により画像信号に変換する撮像装置において、ぶれ検出部107により検出された撮像装置の像ぶれを第1のぶれ補正レンズ102及び第2のぶれ補正レンズ103を駆動して低減させる。光学条件判定109が第1のぶれ補正レンズ102及び第2のぶれ補正レンズ103の光学特性及び位置情報とAF枠情報とからAF枠における撮像光学系101の光学特性の変化量を算出し、算出した光学特性の変化量に基づき撮像光学系101がAF枠に対してAF可能な光学条件にあるか否かを判定し、撮像光学系101がAF枠に対してAF可能な光学条件にあるとき、システム制御部106がAF枠情報に基づき合焦動作を行う。【選択図】図2

請求項（抜粋）：

撮像光学系により結像された光学像を撮像素子により画像信号に変換する撮像装置であって、 前記撮像装置のぶれ情報を検出するぶれ検出手段と、 前記ぶれ検出手段が検出した前記撮像装置のぶれ情報に基づき、前記撮像光学系を構成する少なくとも1つ以上の光学部材を駆動させる駆動手段と、 被写体までのAFを行い、AF枠情報を算出するAF手段と、 前記被写体に対する前記撮像光学系の合焦を行う合焦手段と、 前記駆動手段により駆動された前記少なくとも1つ以上の光学部材の光学特性及び位置情報と、前記AF手段により求められたAF枠情報とから前記AF枠における前記撮像光学系の光学特性の変化量を算出し、算出した前記光学特性の変化量に基づき前記撮像光学系が前記AF枠に対してAF可能な光学条件にあるか否かを判定する判定手段と、 前記判定手段により前記撮像光学系が前記AF枠に対してAF可能な光学条件にあると判定されたときに、前記AF手段が算出したAF枠情報に基づき前記合焦手段による合焦を行う制御手段とを備えることを特徴とする撮像装置。

IPC (4件)：

G02B 7/28 ,  G03B 5/00 ,  G03B 13/36 ,  H04N 5/232

FI (6件)：

G02B7/11 N ,  G03B5/00 J ,  G03B5/00 L ,  G03B3/00 A ,  H04N5/232 H ,  H04N5/232 Z

Fターム (23件)：

2H011BA23 ,  2H011BA33 ,  2H011DA00 ,  2H151EA09 ,  2H151EA28 ,  2H151EB10 ,  2K005AA03 ,  2K005CA02 ,  2K005CA14 ,  2K005CA23 ,  2K005CA35 ,  5C122EA41 ,  5C122EA68 ,  5C122FB03 ,  5C122FD06 ,  5C122FD07 ,  5C122FD13 ,  5C122HA78 ,  5C122HA82 ,  5C122HA88 ,  5C122HB01 ,  5C122HB06 ,  5C122HB10